13-laboratoriya ishi polyarimetrlarni qiyoslash ishdan maqsad

3.3. Metrologik parametrlarini aniqlash 
3.3.1. Qurilmaning asosiy xatoligini va u bo‘yicha qiymatlarni shkalaning uchtadan kam 
bo‘lmagan nuqtalarida aniqlanadi (ikkita chegaraviy qiymatlarga yaqin qiymatlarda va ularning
oralig‘ida). Bu xatoliklar fotoelektrik qurilmalar uchun neytral va neytral bo‘lmagan yorug‘lik 
filtrlari uchun pasportda ko‘rsatilgan yuqoriroq optik zichlik qiymatlari uchun tekshiriladi.
Qutblanish tekisligining burilish burchagini bir necha to‘lqin uzunliklarida o‘lchashga 
mo‘ljallangan polyarimetrlarda metrologik parametrlar barcha to‘lqin uzunliklarida aniqlanadi.
3.3.2. Agar namunaviy polyarimetrik plastinkalarning temperaturasi o‘lchash davomida 
20
o

S dan farq qilsa, unday vaqtda uning burilish burchagi o‘lchanayotgan haroratda quyidagi 

formula yordamida aniqlanadi:

ѱ = ѱ

20
[1 + 0,000143(𝑡 − 20

𝑜
)]
bu erda, ψ - o‘lchanayotgan temperaturada plastinkaning burilish burchagi;
ψ
20
- 20

o
S temperaturada plastinkaning pasportida keltirilgan

burilish
burchagi; 
t
-
plastinkaning 

o‘lchanayotgan

vaqtdagi 
temperaturasi.
3.3.3. Polyarimetrning va saxarimetrning asosiy xatoligini namunaviy polyarimetrik plastinkalar 
yordamida, 3.3.1. va 3.3.2. punktlarda ko‘rsatilgan talablar asosida aniqlanadi.
3.3.4. Fotoelektrik polyarimetrning ko‘rsagichlaridagi o‘xshashlik ( polyarimetrlar va 
saxarimetrlar uchun) o‘lchanayotgan qiymatga nisbatan ko‘p yoki kam bo‘lgan qiymatlar uchun,

---

---

namunaviy polyarimetrik plastinkalar yordamida, 3.3.1. va 3.3.2. punktlarda ko‘rsatilgan

talablar asosida aniqlanadi. Qurilmaning kyuveta qo‘yiladigan joyiga namunaviy polyarimetrik 
plastinkalar joylashtiriladi va uni 2.2 punktda ko‘rsatilgan ko‘rinishda ushlab turiladi.
Qutblanish tekisligining burilish burchagini instruksiyada ko‘rsatilgan tarzda nol qiymatdan 
kichikroq bo‘lgan beshta qiymatlarda o‘lchanadi. Keyin noldan kattaroq bo‘lgan beshta
qiymatlarda o‘lchanadi. O‘nta olingan eng katta va eng kichik o‘lchash qiymatlaridagi farq yo‘l 
qo‘yishi mumkin bo‘lgan, qurilmaning pasportida ko‘rsatilgan xatolik darajasidan katta
bo‘lmasligi kerak.
3.3.5. Fotoelektrik polyarimetrning asosiy xatoligini namunaviy polyarimetrik plastinkalar
yordamida, 3.3.1. va 3.3.2. punktlarda ko‘rsatilgan talablar asosida aniqlanadi. Qurilmaga 
namunaviy polyarimetrik plastinkalarni joylashtiriladi, uni 2.2 punktda ko‘rsatilgan ko‘rinishda
ushlab turiladi va plastinkaning burilish burchagini beshtadan kam bo‘lmagan qiymatlarda 
o‘lchanadi. O‘lchangan qiymatlar (yoki o‘ziyozar qurilma yozgan qiymatlar) va guvohnomada
keltirilgan qutblanish tekisligining burilish burchagi qiymatlarining farqlari topiladi. Aniqlangan 
qiymatlar yo‘l qo‘yishi mumkin bo‘lgan texnik xujjatlarda ko‘rsatilgan chegaraviy xatolik
qiymatidan (aniq bir qurilma tipi uchun) katta bo‘lmasligi kerak.
3.3.6. Fotoelektrik polyarimetrning turg‘un xolatdagi to‘xtovsiz ishlash vaqtini davriy
ravishda belgilash asosida 30 minut davomida ishlatib qizdirilgandan keyin va qurilma 
noniusining nol xolati pasportda ko‘rsatilgan usulda aniqlanadi. Qurilmaning nol xolati yo‘l
qo‘yilishishi mumkin bo‘lgan texnik xujjatlarda ko‘rsatilgan chegaraviy xatolik qiymatidan 
oshmasligi kerak.
3.3.7 . Qurilmani qiyoslash bo‘yicha olingan natijalar maxsus bayonnoma shakliga 
yoziladi va rasmiylashtiriladi.