Acronyme : «acronyme»

Acronyme : soctst	Spécialité : ACSI	3 ECTS	Niveau : 500
Semestre : S4
Titre : Test des systèmes intégrés sur puce (System on chip testability)
Responsable : Mounir BENABDENBI		Répartition hebdomadaire ou semestrielle
		(30h/7 semaines)
Contenu Ce module présente l'état de l'art de la conception en vue du test des systèmes intégrés sur puce. Différentes techniques et architectures de test sont présentées et appliquées.
Expérience du responsable dans le domaine de l’UE Mounir BENABDENBI est maître de conférences à l'université de Paris 6. Il a obtenu son doctorat à Paris 6 en 2002. Il est responsable dans le laboratoire LIP6 des activités de recherche sur le test des circuits intégrés et le test des systèmes embarquées sur une puce (SoC)
Réalisations du responsable dans le domaine de l’UE M. BENABDENBI, W. MAROUFI, M. MARZOUKI. SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation. Contribution à l'ouvrage sous la forme d'un chapitre fourni. Edité par Krishnendu Chakrabarty. Kluwer Academic Publishers, Boston Hardbound, ISBN 1-4020-7205-8, September 2002. M. BENABDENBI, W. MAROUFI, M. MARZOUKI. CAS-BUS : A Test Access Mechanism and a toolbox Environment for Core-based System Chip Testing. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA Special issue on Plug-and-Play Test Automation for System on a Chip), pages 455-473, Volume 18, Number 4, August/October 2002. M. BENABDENBI, F. PECHEUX, A. GREINER, B. LEE, E. VIAUD. STEPS:Experimenting a new Software-Based Strategy for Testing SoCs Containing P1500 Compliant IP Cores. In IEEE Design Automation and Test in Europe (DATE), pages 712-713, Paris, France, February 2004. M. TUNA, M. BENABDENBI, A. GREINER. STESI:Testing wrapped IP cores using a dedicated Test Processor. In 3rd IEEE International Workshop on Infrastructure IP (IIP), pages 19-24, Palm Springs, CA, USA, May 2005 M. BENABDENBI, W. MAROUFI, M. MARZOUKI. Testing TAPed Cores and Wrapped Cores with the Same Test Acces Mechanism. In IEEE Design Automation and Test in Europe (DATE), pages150-155, Munich, Germany, March 2001.

Acronyme : sp	Spécialité : toutes	18 ECTS	Niveau : 500	Semestre : S4
Titre : Stage professionnel
Responsable : nombreux coordonnateurs et responsables de stage.