Atelier Géosciences et matériaux



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AT1 : Tomographie par rayons X Nano Foyer


Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’analyses et d'observations appliquées à l’analyse des produits électroniques automobiles.
Equipements : Equipement RX Tomographie : General Electric v tome x s

Equipement RX Laminographie : en cours d’acquisition

Equipement RX 2D : XTek VTX 160
Nombre de stagiaires : 8-10 personnes

Lieu : Continental Automotive SAS, 1 avenue Paul Ourliac 31036 Toulouse
Intervenants : Estelle BABOUX (Continental)

Christophe PEYRAU (Continental)

Nicolas DORET (Continental)

Azziz SEBBOUH (Continental)


Programme :
08h45 – 09h00 : Accueil des participants

09h45 – 09h15 : Présentation du laboratoire

09h15 – 10h15 : Radiographie historique, principe, équipements, réglementation

10h15 - 10h30 : Pause

10h30 - 11h30 : Tomographie

11h30 - 12h15 : Visite du laboratoire (équipements) et présentation des moyens techniques

12h15 - 13h30 : Repas

13h30 - 17h00: Manipulation et analyse (RX3D)

17h00 : Fin de l’atelier, discussions et échanges


Coordinateur : Azziz SEBBOUH

Qualification Laboratories

Continental Automotive France SAS

1 Avenue Paul Ourliac - BP 83649

31036 Toulouse (France)

Bureau: 05 61 19 55 18

Mail: azziz.sebbouh@continental-corporation.com













AT2 : Caractérisations de surface et extrême surface


Objectifs : Appréhender les problématiques liées à la caractérisation de surface d'un échantillon ( massif, multi-couches, etc …) au moyen de différentes techniques (XPS, RAMAN, AFM, MEB EDS basse tension). La réflexion portera sur plusieurs points :

- origine et nature des informations recueillies

- stratégie à adopter dans l'utilisation des techniques les unes par rapport aux autres

- préparations adaptées...


Equipements : XPS K alpha

AFM/STM modèle 5500 

Microscope confocal RAMAN Labram HR 800 Yvon Jobin

MEB FEI Quanta450 et EDS Bruker Quantax à basse tension


Nombre de stagiaires : 6 personnes
Lieu : Centre Inter-universitaire de Recherche et d’Ingénierie des Matériaux (CIRIMAT) - UMR CNRS 5085INP-ENSIACET, 4 allée Emile Monso – 31030 Toulouse cedex 4
Intervenants : Jérôme ESVAN

Cédric CHARVILLAT 

Olivier MARSAN

Djar OQUAB 

Yannick THEBAULT
Programme :
9h00 : Accueil des participants

9h15 - 10h45 : Présentation de l’atelier

10h45 - 11h00 : Pause

11h00 - 12h00 : Mise en pratique d'une première technique

12h00 - 14h00 : Repas

14h00 - 16h00 : Suite des démonstrations techniques

16h00 – 17h00 : Pause puis discussions, échanges, conclusion
Coordinateur : Jérôme ESVAN

CIRIMAT-INP-ENSIACET


 4 allée Emile Monso
BP44362
31030 Toulouse Cedex 4

Bureau: 05 34 32 34 45

Mail : Jerome.Esvan@ensiacet.fr

http://www.cirimat.cnrs.fr/



















AT3 : Expertise dans le domaine spatial par EBSD et Cathodolumiscence


Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’analyses par cathodoluminescence et EBSD (Electron BackScatter Diffraction) sur un MEB appliquées aux composants électroniques et optoélectroniques dans le domaine spatial (diodes laser, LED, report des composants, problématiques ROHS, brasures…).
Equipements : Microscope Electronique FEG : ZEISS SUPRA55

Cathodoluminescence résolue en longueur d’onde : Gatan MonoCL4

Platine froide: (-185°C) GATAN C1003

EBSD: caméra Oxford Instrument Nordlys II S


Nombre de stagiaires : 8 personnes

Lieu : Laboratoire d’expertise du CNES 18, avenue Edouard Belin, 31401 Toulouse
Intervenants : Gérald GUIBAUD (Thales CS)

Hélène CHAUVIN (Thales CS)

Romain PETRE-BORDENAVE (ELEMCA)

Patrick NGUYEN (ELEMCA)

Guy PEREZ (CNES)

Frédéric BOURCIER (CNES)


Programme :

8h30-9h00 : Accueil des participants avec café et viennoiseries

9h30-11h00 : Analyse EBSD : démonstration de cartographie sur un joint brasé (groupe 1)

//// Visite du laboratoire (groupe 2)

11h00-12h30 : Analyse EBSD : démonstration de cartographie sur un joint brasé (groupe 2)

//// Visite du laboratoire (groupe 1)

12h30-14h00 : Repas restaurant du CNES

14h00-15h30 : Préparation d’échantillon et analyse en cathodoluminescence résolue en longueur d’onde à basse température sur une diode laser (groupe 1)

//// Présentation d'un cas d'étude d'expertise pour un projet spatial (groupe 2)

15h30-16h00 : Pause-café et discussion

16h00-17h30 : Préparation d’échantillon et analyse en cathodoluminescence résolue en longueur d’onde à basse température sur une diode laser (groupe 2)

//// Présentation d'un cas d'étude d'expertise pour un projet spatial (groupe 1)


Coordinateur : Frédéric BOURCIER

CNES


18, avenue E.Belin

31401 TOULOUSE

Bureau : 05.61.28.17.71

Mail : frederic.bourcier@cnes.fr






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du


laboratoire








AT4: La micro-fractographie dans l’expertise


Objectifs : Sensibiliser les stagiaires à l’apport du MEB et de la fractographie dans les expertises suite à accident ou incident (analyse de ruptures métalliques et composites).
Equipements : FEG JEOL JSM-7800F

FEI XL30 ESEM

MEB JEOL 6510 Grande Chambre
Nombre de stagiaires : 10-12 personnes

Lieu : DGA Techniques aéronautiques

47, rue Saint Jean BP 93123 31131 BALMA Cedex


Intervenants : Valérie DEJEAN (Responsable d’expertise)

Myriam FONTES (Responsable d’expertise)

Christophe LE FAOU (Responsable d’expertise)

Jean-Claude BOTTIN (Responsable d’expertise)


Programme :
8h45 - 9h : Accueil des participants

9h – 9h45 : Présentation du centre et du département Investigations

9h45 - 10h : Pause

10h00 - 12h : Visite

12h - 13h30 : Repas

13h30 - 16h30 : Démonstrations et travaux pratiques

16h30 – 17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges


Coordinateur : Christophe LE FAOU

DGA Techniques aéronautiques

47, rue Saint Jean BP 93123

31131 BALMA Cedex

Mail : christophe.le-faou@intradef.gouv.fr









AT5 : Expertise en analyses des matériaux

Couplage FIB - MET - Microsonde
Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’analyses par microscopie électronique (Microsonde, FIB et MET) appliquées aux objets métalliques type superalliages et en géosciences.
Equipements : Microsonde Electronique Cameca SXFive

Dual-beam FEI Helios NanoLab 600i

Microscope Electronique en Transmission Jeol JEM 2100F
Nombre de stagiaires : 15 personnes

Lieu : Centre de microcaractérisation Raimond Castaing – 3 rue Caroline Aigle - 31400 Toulouse
Intervenants : Armel DESCAMPS-MANDINE (IE CNRS)

Sophie GOUY (IE Université Toulouse III)

Claudie JOSSE (IE CNRS)

Philippe de PARSEVAL (IR Université Toulouse III)

Marc de RAFELIS (Pr Université Toulouse III)

Programme :
8h45 - 9h : Accueil des participants

9h - 10h : Analyses couplées (FIB, TEM, microsonde) de superalliage et géomatériaux

10h - 10h30 : Pause

10h30 - 12h : Visite du Centre Raimond Castaing

12h - 13h30 : Repas

13h30 - 17h : Démonstrations et travaux pratiques (Microsondes, FIB, TEM)

17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges
Coordinateurs :

Matériaux :

Claudie JOSSE

Centre de microcaractérisation Raimond Castaing

3 rue Caroline Aigle

31400 TOULOUSE

Bureau : 05.61.17.10.46

Mail : claudie.josse@ensiacet.fr

http://ccarcastaing.fr/


Géomatériaux :

Sophie GOUY

Centre de microcaractérisation Raimond Castaing

3 rue Caroline Aigle

31400 TOULOUSE

Bureau : 05.61.17.10.48

Microsondes : 05.61.17.10.49

Mail : sophie.gouy@get.omp.eu



http://ccarcastaing.fr/













AT6 : Comprendre pour mieux concevoir au génie civil


Objectifs : Initier les stagiaires aux différentes techniques d’analyse permettant la caractérisation chimique, minéralogique et microstructurale des matériaux de construction (DRX, Fluorescence X, MEB)
Equipements : Microscope Electronique Jeol 6380LV

Spectromètre de fluorescence X Shimadzu EDX 800P

Appareil de fusion Le Neo - Claisse

Diffractomètre des rayons X Bruker D8000 Advance


Nombre de stagiaires : 5 personnes
Lieu : Laboratoire Matériaux et Durabilité des Constructions (LMDC), INSA Génie Civil, 135 avenue de Rangueil, 31077 Toulouse cedex 04
Intervenants : Vanessa MAZARS (IE INSA)

Gilles ESCADEILLAS (Professeur Université Toulouse III)


Programme :
8h50 - 9h : Accueil des participants

9h - 10h : Différentes techniques d’analyse : de la composition chimique à la microstructure des matériaux

10h - 10h30 : Pause

10h30 - 12h : Visite du LMDC et échanges sur les techniques d’analyses au génie civil

12h - 13h30 : Repas

13h30 - 17h : Démonstration et travaux pratiques (DRX, Fluorescence X, MEB)

- Analyse minéralogique d’une pâte de ciment par diffraction des rayons X

- Analyse chimique par spectrométrie de fluorescence X : préparation de l’échantillon, analyse

- Observation de la microstructure d’un béton au MEB

17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges



Coordinateur : Vanessa MAZARS

LMDC - INSA Génie civil

135 avenue de Rangueil

31077 TOULOUSE cedex 04

Bureau : 05.61.55.99.28

Mail : vmazars@insa-toulouse.fr



http://www-lmdc.insa-toulouse.fr/recherche/equip_ch.php






AT7 : Matériaux du patrimoine culturel


Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des méthodes et techniques d’analyses (microscopie électronique, diffraction des Rayons X et spectroscopie Raman) appliquées à des objets archéologiques ou historiques (couches décoratives de céramiques, patines de bronzes, matériaux des premiers âges de l’aéronautique…)

Equipements : Microscope Electronique à Balayage (JEOL 6490)

Spectromètres Raman (XploRa MV2000)

Diffractomètre RX (D8 Discover)
Nombres de stagiaires : 4-8 personnes (2 groupes)
Lieu : Centre d’Elaboration de Matériaux et d’Etudes Structurales (CEMES), 29 rue de J. Marvig, 31055 Toulouse
Intervenants : Magali BRUNET (CEMES-CNRS)

Christophe DESHAYES (CEMES-CNRS)

Nicolas RATEL (CEMES-CNRS)

Luc ROBBIOLA (TRACES, Université Toulouse 2)

Philippe SCIAU (CEMES-CNRS)

Programme :
8h45-9h : Accueil des participants

9h00-9h45 : Principe de la caractérisation des matériaux du patrimoine et présentation des TP

9h45-10h00 : Pause

10h15-12h : Démonstrations et travaux pratiques (MEB ou spectroscopie Raman)

12h-13h30 : Repas

13h30-15h15 : Démonstrations et travaux pratiques (spectroscopie Raman ou DRX)

15h15-17h : Démonstrations et travaux pratiques (DRX ou MEB)

17h : Fin de l’Atelier, discussion et échanges



Coordinateur : Magali Brunet

CEMES-CNRS

29 rue J. Marvig, 31055 TOULOUSE

Bureau : 05 62 25 78 96

Mail : magali.brunet@cemes.fr

http://www.cemes.fr






AT8 : Microscopie Electronique en Transmission


Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser avec la microscopie électronique en transmission et son application en science des matériaux.
Equipements : Microscope Electronique en Transmission CM20FEG, EELS, EDX et I2TEM Holographie électronique
Nombre de stagiaires : 8 à 10 personnes
Lieu : Centre d’Elaboration de Matériaux et d’Etudes Structurales (CEMES)

29 rue de J. Marvig, 31055 Toulouse


Intervenants : Florent HOUDELLIER (IR CEMES CNRS)

Cécile MARCELOT (IE CEMES CNRS)


Programme :
8h45 - 9h : Accueil des participants

9h - 10h15 : La Microscopie Electronique en Transmission, principe et application en science des matériaux. Conventionnel, diffraction (SAED, CBED, LACBED), Haute Résolution, spectroscopie de perte d’énergie d’électrons et STEM (balayage en TEM)

10h15 - 10h30 : Pause

10h30 - 11h30 : Une introduction à la cartographie quantitative des champs par Holographie électronique

11h30 - 12h15 : Visite du laboratoire CEMES et présentation des moyens techniques

12h15 - 13h30 : Repas

13h30 - 17h : Démonstrations et travaux pratiques au TEM sur un échantillon de votre choix

- Etudes structurales en CTEM et diffraction

- Etude chimique en EDX et EELS (STEM-EELS possible)

- Ouverture vers l’holographie électronique et la microscopie cohérente

17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges.


Coordinateur : Florent HOUDELLIER

CEMES-CNRS

29 rue J. Marvig

31055 TOULOUSE

Bureau : 05.62.25.78.80

Mail : Florent.houdellier@cemes.fr



http://www.cemes.fr




AT 9 : Cryomicroscopie à balayage :

de la chimie à la biologie
Objectifs : Utilisation des cryo-technologies en microscopie électronique à balayage pour l’observation d’échantillons hydratés.
Equipements : Microscope électronique à Balayage FEI Quanta 250 FEG avec platine cryo PP3000T Quorum

Nombre de stagiaires : 5 personnes
Lieu : Centre de Microscopie Electronique Appliquée à la Biologie (CMEAB), Faculté de Médecine Rangueil, 133 route de Narbonne, 31062 Toulouse cedex.
Intervenants : Marie-Bernadette DELISLE (PU-PH Faculté de Médecine de Rangueil)

Céline GUILBEAU-FRUGIER (MCU-PH Faculté de Médecine de Rangueil)

Bruno PAYRE (IE Univ. Toulouse III)

Dominique GOUDOUNECHE (Tech Univ. Toulouse III)

Isabelle FOURQUAUX (Tech Univ. Toulouse III)
Grégoire MERCIER, société Leica

Frédéric LEROUX, Spécialiste applications, Leica Microsystèmes LSN Nano


Programme :
8h30-9h00 : Accueil des participants

9h-9h20 : Principe du microscope électronique à balayage

9h20-9h40 : Techniques de préparation des échantillons hydratées

9h40-10h00 : Application à un sujet de recherche

10h00-10h15 : Pause

10h15-11h00 : TD-Cryo-préparation d’échantillons

11h00-12h : TD-Observation d’échantillons au cryo-MEB

12h-13h30 : Repas

13h30-14h30 : TD-Cryo-préparation d’échantillons

14h30-16h00 : TD-Observation d’échantillons au cryo-MEB

16h-17h : Table ronde, bilan des observations, discussion et échanges.

17h : Fin de l’Atelier.


Coordinateurs : Céline.GUILBEAU-FRUGIER et Bruno PAYRE

CMEAB, Faculté de Médecine Rangueil,

133 route de Narbonne

Bureau : 05 62 88 90 35

Mail : cmeab.contact@univ-tlse3.fr





AT10 : Cryométhodes en Microscopie Electronique en Transmission


Objectifs : Ce stage présente les principales techniques de préparations des échantillons biologiques et chimiques au plus proche de leur état natif en utilisant les cryométhodes ainsi que leur observation en cryomicroscopie. Ces technologies seront abordées sous un aspect théorique puis pratique durant les ateliers de préparations et d’observation des échantillons.
Equipements : Microscope Electronique JEOL JEM 2100

Cryoplunge Leica EMGP

Cryofixateur haute pression Leica EMPACT1

Cryosubstituteur Leica AFS2

Cryoultramicrotome Leica UC7/FC7
Nombre de stagiaires : 10 personnes maximum
Lieu : Plateforme de Microscopie Electronique Intégrative METi

Bâtiment IBCG-CNRS

118, route de Narbonne – 31062 Toulouse cedex
Intervenants : Stéphanie BALOR (IE Responsable technique METi)

Vanessa SOLDAN (AI METi)

Pierre-Emmanuel GLEIZES (Pr. Responsable scientifique METi)

Célia PLISSON-CHASTANG (CR2 Responsable cryomicroscopie METi)


Programme :
8h45 - 9h : Accueil des participants

9h – 9h30 : Visite du METi

9h30 - 10h30 : Présentation orale

10h30 - 11h : Pause

11 - 12h : Présentation orale

12h - 13h30 : Repas

13h30 - 17h : Atelier de cryopréparation des échantillons (cryocoupes et cryoplunge)

Atelier de cryomicroscopie

17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges
Coordinateur : Stéphanie BALOR

Plateforme de Microscopie Electronique Intégrative METi

Bâtiment IBCG-CNRS

118, route de Narbonne - 31062 Toulouse cedex

Bureau : 05.61.33.59.12

Mail : stephanie.balor@ibcg.biotoul.fr



https://www-meti.biotoul.fr//











AT11 : Recherche de traces en Police Scientifique


Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’analyse par microscopie électronique à balayage couplé à un système de micro-analyse X (MEB/EDS) appliqué à la recherche de traces en Police Scientifique dans le domaine de l’expertise judiciaire.
Equipements : Microscope Electronique LEO 435 VP - Micro-Analyseur X – OXFORD INCA

Microscope Electronique ZEISS EVO MA 10 - Micro-Analyseur X – OXFORD INCA


Nombre de stagiaires : 8 personnes
Lieu : Laboratoire de Police Scientifique de Toulouse – 23, bd de l’Embouchure 31021 TOULOUSE Cedex
Intervenants : Valérie ROBIN (Ingénieur en Chef – Cellule Communication)

Karim MAACHI (Ingénieur – Cellule Communication)

Jean Luc BOSCO (Ingénieur Principal – Division Chimie/Section Physico – Chimie)

Christian BROCARD (Ingénieur en Chef - Section Balistique)

Philippe REYNIER (Major de Police – section Balistique)

Sylvie BATTISTUTA (Technicien en Chef - Division Chimie/Section Physico – Chimie)

Sébastien BREIL (Technicien en Chef – Division Chimie/Section Physico – Chimie)
Programme :

08h45 - 09h00 : Accueil des participants

09h00 - 09h30: L’exploitation des traces en Police Scientifique

09h30 - 10h15: Bases de la Balistique Moderne - Principe de l’investigation dans le cadre de la Police Scientifique

10h15 - 10h30 : Pause

10h30 - 11h30 : Principe de la recherche de particules Résidus de Tir par MEB et Micro – Analyse X

11h30 - 12h00 : Visite de la section Balistique du Laboratoire de Police – Tirs d’essais

12h00 - 13h30 : Repas

13h30 – 16h50 : Démonstrations et travaux pratiques (MEB et Micro-Analyse X)


  • Prélèvements

- Analyse en mode automatique (EVO MA 10)

- Analyse en mode manuel (LEO 435 VP) 

16h50 - 17h00 : Fin de l’atelier, discussions et échanges

Coordinateur : Jean Luc BOSCO

Laboratoire de Police Scientifique de Toulouse

23, bd de l’Embouchure

31021 TOULOUSE Cedex

Bureau : 05.61.12.79.08

Mail : jean-luc.bosco@interieur.gouv.fr



Site Internet : http://www.interieur.gouv.fr/sections/inps



AT12 : Nanoélectronique


Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’observations (microscopie électronique en transmission haute résolution et spectrométrie de masse des ions secondaires) appliquées à l’analyse des matériaux pour la nanoélectronique.
Equipements : Sonde ionique focalisée (FEI Helios 600i)

Microscope Electronique en Transmission (JEM-ARM200F Cold FEG)

Spectrométrie de masse des ions secondaires (CAMECA IMS 4FE6)
Nombre de stagiaires : 4 à 6 personnes
Lieux : - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS, CNRS)

7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse

- Centre de Microcaractérisation Raimond Castaing (UMS3623)

Espace Clément ADER, 3, rue Caroline Aigle, 31400 TOULOUSE


Intervenants : Fuccio CRISTIANO (DR, LAAS-CNRS)

Lucien DATAS (IR CIRIMAT-CNRS)

Pier-Francesco FAZZINI (MCF, LPCNO-INSA Toulouse)

Teresa HUNGRIA (IE UPS)

Benjamin REIG (IR, LAAS-CNRS)
Programme :
8h45 - 9h : Accueil des participants (LAAS)

9h - 10h15 : Introduction aux problématiques de la nanoélectronique :



  • Miniaturisation (nouveaux matériaux, architectures 3D)

  • Besoins en nanocaractérisation (structurale et électrique)

  • Présentation des techniques TEM et SIMS

10h15 - 10h45 : Pause

10h45 - 12h : Visite de la salle blanche du LAAS :



  • Procédés de fabrication de composants

  • Fabrication d’échantillons pour le MET à partir de matériaux nanostructurés (FIB)

12h - 13h30 : Repas – Transfert au Centre de Microcaractérisation

13h30 - 14h : Présentation des méthodes de préparation de matériaux massifs pour le MET

14h - 17h : Démonstrations et travaux pratiques (SIMS et MET)

17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges


Coordinatrice : Teresa HUNGRIA

Centre de Microcaractérisation Raimond Castaing, Espace Clément ADER,

3, rue Caroline Aigle,

31400 TOULOUSE

Bureau : 05.61.17.10.39

Mail : maria-teresa.hungria-hernandez@univ-tlse3.fr



http://ccarcastaing.fr/












AT13 : Caractérisation de dispositifs électroniques

Objectifs : Découvrir des utilisations non conventionnelles du MEB avec des détecteurs non intégrés :
EBIC (Electron Beam-Induced Current) : la jonction p-n comme détecteur, applications : analyse du fonctionnement et de la défaillance de diodes, transistors et cellules solaires.

SEAM  (Scanning Electron Acoustic Microscopy) : Ondes acoustiques générées par le faisceau d’électrons, applications : mise en contraste des propriétés mécaniques et zones de contraintes, visualisation des zones dopées dans les semi-conducteurs.

Equipements : MEB JEOL 6400 et JEOL 840, EBIC, SEAM

Nombre de stagiaires : 6 personnes
Lieu : INSA, département Génie Physique - 135 avenue de Rangueil - 31077 TOULOUSE CEDEX 4
Intervenants : Benoit VIALLET (MC INSA)

Jean-Luc GAUFFIER (MC INSA)

Simon CAYEZ (IE INSA)

Stéphanie REYJAL (Technicienne INSA)



Programme :
8h45 - 9h : Accueil des participants

9h - 10h : Présentation et visite du laboratoire de micro et nano caractérisation

10h - 10h30 : Pause

10h30 - 12h : EBIC : démonstrations et travaux pratiques

12h - 13h30 : Repas

13h30 - 17h : SEAM : démonstrations et travaux pratiques

17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges

Coordinateur : Benoît VIALLET

INSA département Génie Physique

135, avenue de Rangueil

31077 TOULOUSE CEDEX 4

Bureau : 05.61.55.96.72

Mail : benoit.viallet@insa-toulouse.fr



http://geniephysique.insa-toulouse.fr/fr/prestations_de_services.html
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