AT1 : Tomographie par rayons X Nano Foyer
Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’analyses et d'observations appliquées à l’analyse des produits électroniques automobiles.
Equipements : Equipement RX Tomographie : General Electric v tome x s
Equipement RX Laminographie : en cours d’acquisition
Equipement RX 2D : XTek VTX 160
Nombre de stagiaires : 8-10 personnes
Lieu : Continental Automotive SAS, 1 avenue Paul Ourliac 31036 Toulouse
Intervenants : Estelle BABOUX (Continental)
Christophe PEYRAU (Continental)
Nicolas DORET (Continental)
Azziz SEBBOUH (Continental)
Programme :
08h45 – 09h00 : Accueil des participants
09h45 – 09h15 : Présentation du laboratoire
09h15 – 10h15 : Radiographie historique, principe, équipements, réglementation
10h15 - 10h30 : Pause
10h30 - 11h30 : Tomographie
11h30 - 12h15 : Visite du laboratoire (équipements) et présentation des moyens techniques
12h15 - 13h30 : Repas
13h30 - 17h00: Manipulation et analyse (RX3D)
17h00 : Fin de l’atelier, discussions et échanges
Coordinateur : Azziz SEBBOUH
Qualification Laboratories
Continental Automotive France SAS
1 Avenue Paul Ourliac - BP 83649
31036 Toulouse (France)
Bureau: 05 61 19 55 18
Mail: azziz.sebbouh@continental-corporation.com
AT2 : Caractérisations de surface et extrême surface
Objectifs : Appréhender les problématiques liées à la caractérisation de surface d'un échantillon ( massif, multi-couches, etc …) au moyen de différentes techniques (XPS, RAMAN, AFM, MEB EDS basse tension). La réflexion portera sur plusieurs points :
- origine et nature des informations recueillies
- stratégie à adopter dans l'utilisation des techniques les unes par rapport aux autres
- préparations adaptées...
Equipements : XPS K alpha
AFM/STM modèle 5500
Microscope confocal RAMAN Labram HR 800 Yvon Jobin
MEB FEI Quanta450 et EDS Bruker Quantax à basse tension
Nombre de stagiaires : 6 personnes
Lieu : Centre Inter-universitaire de Recherche et d’Ingénierie des Matériaux (CIRIMAT) - UMR CNRS 5085INP-ENSIACET, 4 allée Emile Monso – 31030 Toulouse cedex 4
Intervenants : Jérôme ESVAN
Cédric CHARVILLAT
Olivier MARSAN
Djar OQUAB
Yannick THEBAULT
Programme :
9h00 : Accueil des participants
9h15 - 10h45 : Présentation de l’atelier
10h45 - 11h00 : Pause
11h00 - 12h00 : Mise en pratique d'une première technique
12h00 - 14h00 : Repas
14h00 - 16h00 : Suite des démonstrations techniques
16h00 – 17h00 : Pause puis discussions, échanges, conclusion
Coordinateur : Jérôme ESVAN
CIRIMAT-INP-ENSIACET
4 allée Emile Monso
BP44362
31030 Toulouse Cedex 4
Bureau: 05 34 32 34 45
Mail : Jerome.Esvan@ensiacet.fr
http://www.cirimat.cnrs.fr/
AT3 : Expertise dans le domaine spatial par EBSD et Cathodolumiscence
Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’analyses par cathodoluminescence et EBSD (Electron BackScatter Diffraction) sur un MEB appliquées aux composants électroniques et optoélectroniques dans le domaine spatial (diodes laser, LED, report des composants, problématiques ROHS, brasures…).
Equipements : Microscope Electronique FEG : ZEISS SUPRA55
Cathodoluminescence résolue en longueur d’onde : Gatan MonoCL4
Platine froide: (-185°C) GATAN C1003
EBSD: caméra Oxford Instrument Nordlys II S
Nombre de stagiaires : 8 personnes
Lieu : Laboratoire d’expertise du CNES 18, avenue Edouard Belin, 31401 Toulouse
Intervenants : Gérald GUIBAUD (Thales CS)
Hélène CHAUVIN (Thales CS)
Romain PETRE-BORDENAVE (ELEMCA)
Patrick NGUYEN (ELEMCA)
Guy PEREZ (CNES)
Frédéric BOURCIER (CNES)
Programme :
8h30-9h00 : Accueil des participants avec café et viennoiseries
9h30-11h00 : Analyse EBSD : démonstration de cartographie sur un joint brasé (groupe 1)
//// Visite du laboratoire (groupe 2)
11h00-12h30 : Analyse EBSD : démonstration de cartographie sur un joint brasé (groupe 2)
//// Visite du laboratoire (groupe 1)
12h30-14h00 : Repas restaurant du CNES
14h00-15h30 : Préparation d’échantillon et analyse en cathodoluminescence résolue en longueur d’onde à basse température sur une diode laser (groupe 1)
//// Présentation d'un cas d'étude d'expertise pour un projet spatial (groupe 2)
15h30-16h00 : Pause-café et discussion
16h00-17h30 : Préparation d’échantillon et analyse en cathodoluminescence résolue en longueur d’onde à basse température sur une diode laser (groupe 2)
//// Présentation d'un cas d'étude d'expertise pour un projet spatial (groupe 1)
Coordinateur : Frédéric BOURCIER
CNES
18, avenue E.Belin
31401 TOULOUSE
Bureau : 05.61.28.17.71
Mail : frederic.bourcier@cnes.fr
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du
laboratoire
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AT4: La micro-fractographie dans l’expertise
Objectifs : Sensibiliser les stagiaires à l’apport du MEB et de la fractographie dans les expertises suite à accident ou incident (analyse de ruptures métalliques et composites).
Equipements : FEG JEOL JSM-7800F
FEI XL30 ESEM
MEB JEOL 6510 Grande Chambre
Nombre de stagiaires : 10-12 personnes
Lieu : DGA Techniques aéronautiques
47, rue Saint Jean BP 93123 31131 BALMA Cedex
Intervenants : Valérie DEJEAN (Responsable d’expertise)
Myriam FONTES (Responsable d’expertise)
Christophe LE FAOU (Responsable d’expertise)
Jean-Claude BOTTIN (Responsable d’expertise)
Programme :
8h45 - 9h : Accueil des participants
9h – 9h45 : Présentation du centre et du département Investigations
9h45 - 10h : Pause
10h00 - 12h : Visite
12h - 13h30 : Repas
13h30 - 16h30 : Démonstrations et travaux pratiques
16h30 – 17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges
Coordinateur : Christophe LE FAOU
DGA Techniques aéronautiques
47, rue Saint Jean BP 93123
31131 BALMA Cedex
Mail : christophe.le-faou@intradef.gouv.fr
AT5 : Expertise en analyses des matériaux
Couplage FIB - MET - Microsonde
Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’analyses par microscopie électronique (Microsonde, FIB et MET) appliquées aux objets métalliques type superalliages et en géosciences.
Equipements : Microsonde Electronique Cameca SXFive
Dual-beam FEI Helios NanoLab 600i
Microscope Electronique en Transmission Jeol JEM 2100F
Nombre de stagiaires : 15 personnes
Lieu : Centre de microcaractérisation Raimond Castaing – 3 rue Caroline Aigle - 31400 Toulouse
Intervenants : Armel DESCAMPS-MANDINE (IE CNRS)
Sophie GOUY (IE Université Toulouse III)
Claudie JOSSE (IE CNRS)
Philippe de PARSEVAL (IR Université Toulouse III)
Marc de RAFELIS (Pr Université Toulouse III)
Programme :
8h45 - 9h : Accueil des participants
9h - 10h : Analyses couplées (FIB, TEM, microsonde) de superalliage et géomatériaux
10h - 10h30 : Pause
10h30 - 12h : Visite du Centre Raimond Castaing
12h - 13h30 : Repas
13h30 - 17h : Démonstrations et travaux pratiques (Microsondes, FIB, TEM)
17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges
Coordinateurs :
Matériaux :
Claudie JOSSE
Centre de microcaractérisation Raimond Castaing
3 rue Caroline Aigle
31400 TOULOUSE
Bureau : 05.61.17.10.46
Mail : claudie.josse@ensiacet.fr
http://ccarcastaing.fr/
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Géomatériaux :
Sophie GOUY
Centre de microcaractérisation Raimond Castaing
3 rue Caroline Aigle
31400 TOULOUSE
Bureau : 05.61.17.10.48
Microsondes : 05.61.17.10.49
Mail : sophie.gouy@get.omp.eu
http://ccarcastaing.fr/
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AT6 : Comprendre pour mieux concevoir au génie civil
Objectifs : Initier les stagiaires aux différentes techniques d’analyse permettant la caractérisation chimique, minéralogique et microstructurale des matériaux de construction (DRX, Fluorescence X, MEB)
Equipements : Microscope Electronique Jeol 6380LV
Spectromètre de fluorescence X Shimadzu EDX 800P
Appareil de fusion Le Neo - Claisse
Diffractomètre des rayons X Bruker D8000 Advance
Nombre de stagiaires : 5 personnes
Lieu : Laboratoire Matériaux et Durabilité des Constructions (LMDC), INSA Génie Civil, 135 avenue de Rangueil, 31077 Toulouse cedex 04
Intervenants : Vanessa MAZARS (IE INSA)
Gilles ESCADEILLAS (Professeur Université Toulouse III)
Programme :
8h50 - 9h : Accueil des participants
9h - 10h : Différentes techniques d’analyse : de la composition chimique à la microstructure des matériaux
10h - 10h30 : Pause
10h30 - 12h : Visite du LMDC et échanges sur les techniques d’analyses au génie civil
12h - 13h30 : Repas
13h30 - 17h : Démonstration et travaux pratiques (DRX, Fluorescence X, MEB)
- Analyse minéralogique d’une pâte de ciment par diffraction des rayons X
- Analyse chimique par spectrométrie de fluorescence X : préparation de l’échantillon, analyse
- Observation de la microstructure d’un béton au MEB
17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges
Coordinateur : Vanessa MAZARS
LMDC - INSA Génie civil
135 avenue de Rangueil
31077 TOULOUSE cedex 04
Bureau : 05.61.55.99.28
Mail : vmazars@insa-toulouse.fr
http://www-lmdc.insa-toulouse.fr/recherche/equip_ch.php
AT7 : Matériaux du patrimoine culturel
Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des méthodes et techniques d’analyses (microscopie électronique, diffraction des Rayons X et spectroscopie Raman) appliquées à des objets archéologiques ou historiques (couches décoratives de céramiques, patines de bronzes, matériaux des premiers âges de l’aéronautique…)
Equipements : Microscope Electronique à Balayage (JEOL 6490)
Spectromètres Raman (XploRa MV2000)
Diffractomètre RX (D8 Discover)
Nombres de stagiaires : 4-8 personnes (2 groupes)
Lieu : Centre d’Elaboration de Matériaux et d’Etudes Structurales (CEMES), 29 rue de J. Marvig, 31055 Toulouse
Intervenants : Magali BRUNET (CEMES-CNRS)
Christophe DESHAYES (CEMES-CNRS)
Nicolas RATEL (CEMES-CNRS)
Luc ROBBIOLA (TRACES, Université Toulouse 2)
Philippe SCIAU (CEMES-CNRS)
Programme :
8h45-9h : Accueil des participants
9h00-9h45 : Principe de la caractérisation des matériaux du patrimoine et présentation des TP
9h45-10h00 : Pause
10h15-12h : Démonstrations et travaux pratiques (MEB ou spectroscopie Raman)
12h-13h30 : Repas
13h30-15h15 : Démonstrations et travaux pratiques (spectroscopie Raman ou DRX)
15h15-17h : Démonstrations et travaux pratiques (DRX ou MEB)
17h : Fin de l’Atelier, discussion et échanges
Coordinateur : Magali Brunet
CEMES-CNRS
29 rue J. Marvig, 31055 TOULOUSE
Bureau : 05 62 25 78 96
Mail : magali.brunet@cemes.fr
http://www.cemes.fr
AT8 : Microscopie Electronique en Transmission
Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser avec la microscopie électronique en transmission et son application en science des matériaux.
Equipements : Microscope Electronique en Transmission CM20FEG, EELS, EDX et I2TEM Holographie électronique
Nombre de stagiaires : 8 à 10 personnes
Lieu : Centre d’Elaboration de Matériaux et d’Etudes Structurales (CEMES)
29 rue de J. Marvig, 31055 Toulouse
Intervenants : Florent HOUDELLIER (IR CEMES CNRS)
Cécile MARCELOT (IE CEMES CNRS)
Programme :
8h45 - 9h : Accueil des participants
9h - 10h15 : La Microscopie Electronique en Transmission, principe et application en science des matériaux. Conventionnel, diffraction (SAED, CBED, LACBED), Haute Résolution, spectroscopie de perte d’énergie d’électrons et STEM (balayage en TEM)
10h15 - 10h30 : Pause
10h30 - 11h30 : Une introduction à la cartographie quantitative des champs par Holographie électronique
11h30 - 12h15 : Visite du laboratoire CEMES et présentation des moyens techniques
12h15 - 13h30 : Repas
13h30 - 17h : Démonstrations et travaux pratiques au TEM sur un échantillon de votre choix
- Etudes structurales en CTEM et diffraction
- Etude chimique en EDX et EELS (STEM-EELS possible)
- Ouverture vers l’holographie électronique et la microscopie cohérente
17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges.
Coordinateur : Florent HOUDELLIER
CEMES-CNRS
29 rue J. Marvig
31055 TOULOUSE
Bureau : 05.62.25.78.80
Mail : Florent.houdellier@cemes.fr
http://www.cemes.fr
AT 9 : Cryomicroscopie à balayage :
de la chimie à la biologie
Objectifs : Utilisation des cryo-technologies en microscopie électronique à balayage pour l’observation d’échantillons hydratés.
Equipements : Microscope électronique à Balayage FEI Quanta 250 FEG avec platine cryo PP3000T Quorum
Nombre de stagiaires : 5 personnes
Lieu : Centre de Microscopie Electronique Appliquée à la Biologie (CMEAB), Faculté de Médecine Rangueil, 133 route de Narbonne, 31062 Toulouse cedex.
Intervenants : Marie-Bernadette DELISLE (PU-PH Faculté de Médecine de Rangueil)
Céline GUILBEAU-FRUGIER (MCU-PH Faculté de Médecine de Rangueil)
Bruno PAYRE (IE Univ. Toulouse III)
Dominique GOUDOUNECHE (Tech Univ. Toulouse III)
Isabelle FOURQUAUX (Tech Univ. Toulouse III)
Grégoire MERCIER, société Leica
Frédéric LEROUX, Spécialiste applications, Leica Microsystèmes LSN Nano
Programme :
8h30-9h00 : Accueil des participants
9h-9h20 : Principe du microscope électronique à balayage
9h20-9h40 : Techniques de préparation des échantillons hydratées
9h40-10h00 : Application à un sujet de recherche
10h00-10h15 : Pause
10h15-11h00 : TD-Cryo-préparation d’échantillons
11h00-12h : TD-Observation d’échantillons au cryo-MEB
12h-13h30 : Repas
13h30-14h30 : TD-Cryo-préparation d’échantillons
14h30-16h00 : TD-Observation d’échantillons au cryo-MEB
16h-17h : Table ronde, bilan des observations, discussion et échanges.
17h : Fin de l’Atelier.
Coordinateurs : Céline.GUILBEAU-FRUGIER et Bruno PAYRE
CMEAB, Faculté de Médecine Rangueil,
133 route de Narbonne
Bureau : 05 62 88 90 35
Mail : cmeab.contact@univ-tlse3.fr
AT10 : Cryométhodes en Microscopie Electronique en Transmission
Objectifs : Ce stage présente les principales techniques de préparations des échantillons biologiques et chimiques au plus proche de leur état natif en utilisant les cryométhodes ainsi que leur observation en cryomicroscopie. Ces technologies seront abordées sous un aspect théorique puis pratique durant les ateliers de préparations et d’observation des échantillons.
Equipements : Microscope Electronique JEOL JEM 2100
Cryoplunge Leica EMGP
Cryofixateur haute pression Leica EMPACT1
Cryosubstituteur Leica AFS2
Cryoultramicrotome Leica UC7/FC7
Nombre de stagiaires : 10 personnes maximum
Lieu : Plateforme de Microscopie Electronique Intégrative METi
Bâtiment IBCG-CNRS
118, route de Narbonne – 31062 Toulouse cedex
Intervenants : Stéphanie BALOR (IE Responsable technique METi)
Vanessa SOLDAN (AI METi)
Pierre-Emmanuel GLEIZES (Pr. Responsable scientifique METi)
Célia PLISSON-CHASTANG (CR2 Responsable cryomicroscopie METi)
Programme :
8h45 - 9h : Accueil des participants
9h – 9h30 : Visite du METi
9h30 - 10h30 : Présentation orale
10h30 - 11h : Pause
11 - 12h : Présentation orale
12h - 13h30 : Repas
13h30 - 17h : Atelier de cryopréparation des échantillons (cryocoupes et cryoplunge)
Atelier de cryomicroscopie
17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges
Coordinateur : Stéphanie BALOR
Plateforme de Microscopie Electronique Intégrative METi
Bâtiment IBCG-CNRS
118, route de Narbonne - 31062 Toulouse cedex
Bureau : 05.61.33.59.12
Mail : stephanie.balor@ibcg.biotoul.fr
https://www-meti.biotoul.fr//
AT11 : Recherche de traces en Police Scientifique
Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’analyse par microscopie électronique à balayage couplé à un système de micro-analyse X (MEB/EDS) appliqué à la recherche de traces en Police Scientifique dans le domaine de l’expertise judiciaire.
Equipements : Microscope Electronique LEO 435 VP - Micro-Analyseur X – OXFORD INCA
Microscope Electronique ZEISS EVO MA 10 - Micro-Analyseur X – OXFORD INCA
Nombre de stagiaires : 8 personnes
Lieu : Laboratoire de Police Scientifique de Toulouse – 23, bd de l’Embouchure 31021 TOULOUSE Cedex
Intervenants : Valérie ROBIN (Ingénieur en Chef – Cellule Communication)
Karim MAACHI (Ingénieur – Cellule Communication)
Jean Luc BOSCO (Ingénieur Principal – Division Chimie/Section Physico – Chimie)
Christian BROCARD (Ingénieur en Chef - Section Balistique)
Philippe REYNIER (Major de Police – section Balistique)
Sylvie BATTISTUTA (Technicien en Chef - Division Chimie/Section Physico – Chimie)
Sébastien BREIL (Technicien en Chef – Division Chimie/Section Physico – Chimie)
Programme :
08h45 - 09h00 : Accueil des participants
09h00 - 09h30: L’exploitation des traces en Police Scientifique
09h30 - 10h15: Bases de la Balistique Moderne - Principe de l’investigation dans le cadre de la Police Scientifique
10h15 - 10h30 : Pause
10h30 - 11h30 : Principe de la recherche de particules Résidus de Tir par MEB et Micro – Analyse X
11h30 - 12h00 : Visite de la section Balistique du Laboratoire de Police – Tirs d’essais
12h00 - 13h30 : Repas
13h30 – 16h50 : Démonstrations et travaux pratiques (MEB et Micro-Analyse X)
- Analyse en mode automatique (EVO MA 10)
- Analyse en mode manuel (LEO 435 VP)
16h50 - 17h00 : Fin de l’atelier, discussions et échanges
Coordinateur : Jean Luc BOSCO
Laboratoire de Police Scientifique de Toulouse
23, bd de l’Embouchure
31021 TOULOUSE Cedex
Bureau : 05.61.12.79.08
Mail : jean-luc.bosco@interieur.gouv.fr
Site Internet : http://www.interieur.gouv.fr/sections/inps
AT12 : Nanoélectronique
Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’observations (microscopie électronique en transmission haute résolution et spectrométrie de masse des ions secondaires) appliquées à l’analyse des matériaux pour la nanoélectronique.
Equipements : Sonde ionique focalisée (FEI Helios 600i)
Microscope Electronique en Transmission (JEM-ARM200F Cold FEG)
Spectrométrie de masse des ions secondaires (CAMECA IMS 4FE6)
Nombre de stagiaires : 4 à 6 personnes
Lieux : - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS, CNRS)
7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse
- Centre de Microcaractérisation Raimond Castaing (UMS3623)
Espace Clément ADER, 3, rue Caroline Aigle, 31400 TOULOUSE
Intervenants : Fuccio CRISTIANO (DR, LAAS-CNRS)
Lucien DATAS (IR CIRIMAT-CNRS)
Pier-Francesco FAZZINI (MCF, LPCNO-INSA Toulouse)
Teresa HUNGRIA (IE UPS)
Benjamin REIG (IR, LAAS-CNRS)
Programme :
8h45 - 9h : Accueil des participants (LAAS)
9h - 10h15 : Introduction aux problématiques de la nanoélectronique :
-
Miniaturisation (nouveaux matériaux, architectures 3D)
-
Besoins en nanocaractérisation (structurale et électrique)
-
Présentation des techniques TEM et SIMS
10h15 - 10h45 : Pause
10h45 - 12h : Visite de la salle blanche du LAAS :
-
Procédés de fabrication de composants
-
Fabrication d’échantillons pour le MET à partir de matériaux nanostructurés (FIB)
12h - 13h30 : Repas – Transfert au Centre de Microcaractérisation
13h30 - 14h : Présentation des méthodes de préparation de matériaux massifs pour le MET
14h - 17h : Démonstrations et travaux pratiques (SIMS et MET)
17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges
Coordinatrice : Teresa HUNGRIA
Centre de Microcaractérisation Raimond Castaing, Espace Clément ADER,
3, rue Caroline Aigle,
31400 TOULOUSE
Bureau : 05.61.17.10.39
Mail : maria-teresa.hungria-hernandez@univ-tlse3.fr
http://ccarcastaing.fr/
AT13 : Caractérisation de dispositifs électroniques
Objectifs : Découvrir des utilisations non conventionnelles du MEB avec des détecteurs non intégrés :
EBIC (Electron Beam-Induced Current) : la jonction p-n comme détecteur, applications : analyse du fonctionnement et de la défaillance de diodes, transistors et cellules solaires.
SEAM (Scanning Electron Acoustic Microscopy) : Ondes acoustiques générées par le faisceau d’électrons, applications : mise en contraste des propriétés mécaniques et zones de contraintes, visualisation des zones dopées dans les semi-conducteurs.
Equipements : MEB JEOL 6400 et JEOL 840, EBIC, SEAM
Nombre de stagiaires : 6 personnes
Lieu : INSA, département Génie Physique - 135 avenue de Rangueil - 31077 TOULOUSE CEDEX 4
Intervenants : Benoit VIALLET (MC INSA)
Jean-Luc GAUFFIER (MC INSA)
Simon CAYEZ (IE INSA)
Stéphanie REYJAL (Technicienne INSA)
Programme :
8h45 - 9h : Accueil des participants
9h - 10h : Présentation et visite du laboratoire de micro et nano caractérisation
10h - 10h30 : Pause
10h30 - 12h : EBIC : démonstrations et travaux pratiques
12h - 13h30 : Repas
13h30 - 17h : SEAM : démonstrations et travaux pratiques
17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges
Coordinateur : Benoît VIALLET
INSA département Génie Physique
135, avenue de Rangueil
31077 TOULOUSE CEDEX 4
Bureau : 05.61.55.96.72
Mail : benoit.viallet@insa-toulouse.fr
http://geniephysique.insa-toulouse.fr/fr/prestations_de_services.html
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