Bilan gds regal (lip6 / inria)



Yüklə 445 b.
tarix02.03.2018
ölçüsü445 b.
#43679


Bilan GDS

  • Regal (LIP6 / INRIA)


Objectifs scientifiques

  • Tolérance aux fautes à large échelle

    • 2 axes
      • Détection de fautes sur Grille
      • Réplication sur systèmes pair-à-pair
  • Algorithmes de verrouillage pour Grilles

    • Exclusion mutuelle hiérarchique
    • Exclusion mutuelle tolérantes aux fautes


Personnes impliquées

  • Sur la période :

    • 1 prof (30 %), 1 MDC (30%), 3 doctorants (2 * 30 %, 1 à 100 %)
    • 1 bourse FullBright (D. Myers)
  • Détection de fautes :

    • Marin Bertier (2003 – 2004)– Doctorant (actuellement MDC Insa Rennes)
    • Pierre Sens – Prof. Paris 6
  • Réplication P2P :

    • Fabio Picconi – Doctorant
    • Pierre Sens
  • Exclusion mutuelle :

    • Luciana Arantes - MDC Paris 6
    • Julien Sopena (2004 – 2006) – Doctorant
    • Pierre Sens


Tolérance aux fautes : organisation hiérarchique

  • 1 groupe local / cluster

  • 1 groupe global



Rôle du mandataire

  • Permet la connexion du groupe local avec le reste du système

  • Détecteur local : surveillance de nœud

  • Détecteur global : surveillance de groupe



GDF dans GDS

  • Utilisation de GDF dans Juxmem

    • Travail commun (M. Bertier, S. Monnet)
  • Rapport



Réplication P2P

  • Etude de la réplication dynamique dans Pastis



Problème de la volatilité

  • « Churn » = taux élevé d’ajout de nœuds et de défaillances

  • Le churn : une des causes des dénis de services dans P2P (issue de sources non forcément malicieuses).

  • Nombreuses études sur la résistances aux churns des overlay (cf. Bambou, MSPastry …).

  • => Relative bonne résistance (quelques minutes) de couche basses (KBR)

  • Quid des applications :

    • Stockage des données
  • Objectif : Etudier le churn dans Past et Pastis



Churn in DHTs



Churn in DHTs



Churn in DHTs



Churn in DHTs



Contributions

  • Théorique : modélisation du « churn »

    • Caractériser la durabilité des données en fonction du taux de volatilité
    • Ecriture d’un papier
  • Algorithmique : Modification du protocole de Join de Pastry

    • Métrique de stabilité utilisé pour l’insertation des noeuds
  • Expérimentation : Injection de volatilité dans Pastis

    • Utilisation de l’émulateur modelnet dans GDX
    • Rapport technique – Soumission CCGrid07


Exclusion mutuelle pour Grille

  • Exclusion mutuelle : outils de base de synchronisation d’application parallèle

  • Algorithmes à Jeton

    • Un jeton unique donne l’accès à la ressource
    • Pas de synchronisation globale
    • Plus extensible
  • Algoirhmes classique:

    • Ne prennent pas en compte la topologie => beaucoup d’échange entre les sites
    • Peu tolérant aux fautes
  • Approches hiérachiques (CCGrid 04, JPDC 06)

    • Idée: Donner une priorité plus forte au requêtes proches
    • => Satifaire prioritaire les requêtes d’un même cluster
  • Mutex tolérant les fautes (Europar 05, SRDS 06, CFSE 06)

    • Fiabilisation de l’algorithme de Naimi-Tréhel
    • Thèse J. Sopena


Performances



Publications Regal - GDS

  • GFD :

    • M. Bertier, O. Marin, P. Sens. Performance Analysis of Hierarchical Failure Detector. Proceedings of the International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN '03), San Francisco, Juin, 2003 (IEEE Computer Press)
  • Pastis :

    • J-M Busca, M. Bertier, F. Belkouch, P. Sens, L. Arantes. A Performance Evaluation of a Quorum-Based State-Machine Replication Algorithm for Computing Grids.. Proc of the 16th Symposium on Computer Architecture and High Performance Computing (SBAC-PAD '04), Iguacu (Brazil), October 2004. IEEE Society Press
    • J-M. Busca, F. Picconi, P. Sens.Pastis: un système de fichiers pair à pair multi-écrivain passant l'échelle. In DistRibUtIon de Données à grande Echelle 2004 (DRUIDE 04), Domaine du Port-aux-Rocs, Le Croisic, France
    • F. Picconi, J-M. Busca, P. Sens. Exploiting network locality in a decentralized readwrite peer-to-peer file systems. Proc of the 10th International Conference on Parallel and Distributed Systems (ICPADS '04), Newport Beach (USA), July 2004. IEEE Society Press
    • J-M. Busca, F. Picconi, P. Sens.Pastis: a Highly-Scalable Multi-User Peer-to-Peer File System. EuroPar 2005, Lisboa, Portugal, September 2005. LNCS.
  • Mutex :

    • M. Bertier, L. Arantes and P. Sens. Hierarchical token based mutual exclusion algorithmsi. Proceedings of the 4th IEEE/ACM International Symposium on Cluster Computing and the Grid (CCGrid '04), Chicago (USA), April 2004. IEEE Society Press
    • M. Bertier, L. Arantes, P. Sens. Algorithme d'exclusion mutuelle pour les GRID : une approche hiérarchique. 4ème Conférence Française sur les Systèmes d'Exploitation (CFSE'4), Le Croisic, France.
    • J. Sopena, L. Arantes, M. Bertier, P. Sens.A fault-tolerant token-based mutual exclusion algorithm using a dynamic tree. EuroPar 2005, Lisboa, Portugal, September 2005. LNCS.
    • M. Bertier, L. Arantes, P. Sens.Distributed Mutual Exclusion Algorithms for Grid Applications: a Hierarchical Approach. Journal of Parallel and Distributed Computing (JPDC) 66(128-144). Elsevier, 2006.
    • J. Sopena, L. Arantes, P. Sens.Performance evaluation of a fair fault-tolerant mutual exclusion algorithm. To appear in IEEE International Symposium on Reliable Distributed Systems (SRDS 2006), Leeds, UK
    • J. Sopena, L. Arantes, P. Sens.Un algorithme équitable d'exclusion mutuelle tolérant les fautes. To appear in 5ème Conférence Française sur les Systèmes d'Exploitation (CFSE'5), France
    • 1 revue internationale (JPDC)
    • 8 conférences internationales (DSN, SRDS, CCGrid, EuroPar, HotOS …)
    • 3 conférences nationales


Logiciels et mobilité

  • GFD

  • Pastis

  • Visite de F. Picconi à Rice (1 semaine 2005), Rutgers (2 mois - 2006)



La suite ...

  • ACI Gédéon

    • Application à la génomique
    • Verrouillage hiérarchique / Modèle de cohérence dans un système de fichiers
  • Mutex

    • Généralisation du Mutex : Allocation de ressources (Thèse M. Bouillaguet)
    • Composition de protocoles Mutex (J. Sopena)
  • Tolérance aux fautes

    • Autres types d’environnements (Capteurs)


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