Fiziologiya kafedrasi "biofizika" fanidan laboratoriya

Spektrofotometr SF-4 da yorug‘likning yutilishini aniqlash.
Spektrofotometr SF-4 asbobi suyuqliklarning 200-220 mmk dan 1200 mmk gacha bo‘lgan chegaradagi optik zichliklarni aniqlash ishlarini olib borishga mo‘ljallangan. Ko‘zga ko‘rinuvchi va infraqizil to‘lqin uzunliklari ( >320 mmk) da o‘lchash olib borilganda akkumulatordan manba oluvchi cho‘g‘lanma lampa ishlatilsa, spektrning ultrabinafsha chegarasi (220-320 mmk) da maxsus stabilizatorga ega bo‘lgan vodorod lampasi ishlatiladi.
Yorug‘likni qabul qiluvchi sifatida almashinadigan vakuum fotoelementlari xizmat qiladi. Manbadan kelayotgan yorug‘lik kirish teshigiga qaratib qo‘yilgan botiq oyna tomonidan fokuslanadi va u ikkita karra prizmadan o‘tib keyin chiqish teshigi orqali kyuveta bo‘limiga yo‘naltiriladi.
Yorug‘lik eritma solingan kyuvetadan o‘tgandan so‘ng fotoelement tomonidan o‘lchanadi. Fotooqim kuchlantiruvchi tomonidan kuchlantiriladi va nolni qayd qiluvchi asbob sifatida potensiometr va mikroampermetrdan foydalanib, o‘lchash ishi olib boriladi. Yutilish ko‘rsatkichini o‘lchashda yorug‘likning yo‘liga dastlab erituvchi solingan kyuveta qo‘yiladi va teshikning kengligi, asbobning sezgirligi aniqlangandan keyin potensiometrning ko‘rsatkichi T=100% (D=0)ga mos keladigan fotooqimning kattaligi aniqlanadi. So‘ng karetka [kyuvetani ko‘chirgichi] ni surish yo‘li bilan tadqiq qilinuvchi eritma solingan kyuveta yorug‘lik manbayi oqimi tomon ko‘chiriladi hamda shu sharoitda potensiometr bo‘yicha optik zichlik o‘lchanadi.
Optik zichlikni o‘lchash har to‘lqin uzunligining 5 mmk miqdori oraligida amalga oshiriladi. Maksimumni aniqlash va aniqlik darajasi 2,5 mmk va hatto 1 mmk oraliqlarigacha kamaytirilishi mumkin. Noma‘lum modda bilan ishlaganda yutilish chegarasini o‘lchash oralig‘i 20-30 mmk bo‘lishi mumkin. O‘lchash natijalarini egri chiziq D=f(α) tarzida ifodalanadi. SF-4 bilan ishlanganda u bilan ishlash tamoyiliga oid yo‘riqnoma bilan tanishish lozim.
O‘lchash sharoitini tanlash o‘ta suyultirilgan eritmalar bilan o‘lchov olib borilganda l_O-l tezligi farqi juda kam miqdorni tashkil qiladi va optik zichlik aniqligi juda past bo‘ladi.
Boshqa tomondan eritmaning konsentratsiyasi juda baland bo‘lganda o‘tgan yorug‘likning jadalligi I keskin kamayadi, yuzaga keladigan fotooqim juda susayadi va uni aniq ravishda o‘lchash qiyinlashadi. Shuning uchun o‘lchov olib boriladigan ma‘lum chegarani o‘z ichiga oladigan va optimal sharoitni namoyon qiladigan optik zichlik oralig‘i mavjud.
Spektrofotometr SF-4 da o‘lchov ishlari D=0.3 dan D=1.5 gacha bo‘lgan chegarada amalga oshiriladi. Bu sharoitlar eritma konsentratsiyasini o‘zgartirish yoki optik yo‘l (kyuveta qalinligi)ni o‘zgartirish orqali tanlab olinadi. Lekin spektrofotometr SF-4 bilan ishlaganda teshikning kengligini taxminan tanlash mumkin emas, chunki eritmaning optik zichligini o‘lchashda har bir to‘lqin uzunligida olib boriladigan potensiometrning ko‘rsatkichi 100% li o‘tkazuvchanlikka mos kelishi lozim.
Teshik kengligini kamaytirish asbobning sezgirligini oshirib fokuslanishni yaxshilash yoki sezgirligi balandroq bo‘lgan yorug‘lik qabul qilgich (priyomnik) dan foydalanish evaziga erishiladi. Spektrning har xil chegaralarida yutilish kattaligi har xil bo‘ladi. Shuning uchun ko‘pincha spektr har xil suyultirish texnikasidan foydalanib alohida-alohida tarzda o‘lchash orqali amalga oshiriladi. Umumiy spektr bo‘yicha egri chiziq tasviri chizilganda optik zichlik konsentratsiyasiga to‘g‘ri proporsionalligini inobatga olish lozim.
Modda konsentratsiyasini tanlashda o‘lchash uchun 2,4,8 va hokaza marta suyultirishlarni qo‘llash maqsadga muvofiq.