Michiya Kanda, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu : Capacitive Open Detection in 3D ICs with A Built-in Comparator of Offset Cancellation Type, 2017 Taiwan and Japan Conference on Circuits and Systems, Aug. 2017.
Satoshi Hirai, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : On design for reducing delay variation in design-for-testability circuit for delay fault, 2017 Taiwan and Japan Conference on Circuits and Systems, Aug. 2017.
河口 巧, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TSV検査のためのTDC組込み型バウンダリスキャン制御回路の設計, DAシンポジウム2017, 15-20, 2017年8月.
河塚 信吾, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TDC組込み型スキャンFFの微小遅延故障検出能力評価, DAシンポジウム2017, 21-26, 2017年8月.
二関 森人, 細川 利典, 吉村 正義, 山崎 紘史, 新井 雅之, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : フリップフロップ組合せの状態正当化による到達不能状態を用いた順序回路のテスト不能故障判定法, DAシンポジウム2017, 186-191, 2017年9月.
新開 颯馬, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 遅延故障検査容易化設計のための遅延付加ゲートの設計, 第64回機能集積情報システム研究会, 2017年10月.
柴田 駿介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 3 次元実装 IC におけるマイクロバンプ欠損時の遅延解析, 第64回機能集積情報システム研究会, 2017年10月.
谷口 公貴, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 試作した遅延故障検査容易化回路による 2 経路同時検査について, 第64回機能集積情報システム研究会, 2017年10月.
新開 颯馬, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TDC 組込み型スキャン設計の遅延付加部の遅延検出能力評価, 第78回FTC研究会資料, 2018年1月.
柴田 駿介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 隣接線の信号遷移を用いる半断線故障判別法の配線長・温度依存性の検討, 第78回FTC研究会資料, 2018年1月.
片山 知拓, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛 : 回路の製造ばらつきを考慮するパス順位比較を用いる半断線故障検査法の評価, 第78回FTC研究会資料, 2018年1月.
2017年度(平成29年度) / 報告書
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