Yoko Uwate, Yoshifumi Nishio and Akio Ushida



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高橋 寛, 樋上 喜信, 堤 利幸, 山崎 浩二, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.112, No.102, 21-26, 20126.

  • 三木 拓也, 宋 天, 島本 隆 : 画面間予測を用いたイントラ符号化アルゴリズム, 14DSPS教育会議, 37-38, 20129.

  • 楠 直人, 島本 隆, 森 興多, 渡邊 健太, 宋 天 : 論理的境界にとらわれない電圧島生成, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.9-13, 20129.

  • 北野 圭則, 上田 哲史, 西尾 芳文, 楊 国安, 楊 暘 : 二値画像に対するフラクタル符号化における輝度値変換パラメータの性質, 平成24年度電気関係学会四国地区連合大会講演論文集, 39, 20129.

  • 小西 朝陽, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : ESD入力保護能力を低下させないIC間断線の電気的検査用回路の実験による評価, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 143, 20129.

  • 冨士 雅宗, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 小西 朝陽 : 電気的テスト法によるIC間配線の半断線検出能力評価, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 142, 20129.

  • 奥村 健, 小西 朝陽, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : IC 間配線分岐における断線の電気的検査可能性調査, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 141, 20129.

  • 中村 真規, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 格子状 TSV 配置における TSV 断線時の故障動作解析, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 140, 20129.

  • 大栗 裕人, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 密集配線内の半断線故障発生時の遅延解析, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 139, 20129.

  • 原口 英, 近藤 将平, 四柳 浩之, 多田 哲生, 橋爪 正樹 : シミュレーション値を用いた完全断線 TSV の出力電圧推定法, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 138, 20129.

  • 宮森 良彦, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 電流テスト容易化抵抗ストリング型DA変換器のTR解析による検査能力評価, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 130, 20129.

  • 末永 翔平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 組込み型IDDT出現時間検出回路による断線故障の検出のための必要条件, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 129, 20129.

  • 西條 慎吾, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樹下 行三 : CMOS画素回路内機能故障の電気的検査可能性評価, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 127, 20129.

  • 岡田 靖彦, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 反転信号のシフト回数を制御する BAST を用いたテストデータ量削減手法, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 148, 20129.

  • 池地 大輔, 末延 侑基, 槇本 浩之, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 遅延故障検査容易化設計におけるSTAを用いる必要付加遅延量の導出, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 149, 20129.

  • 山下 淳, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樹下 行三 : SATソルバによる隣接線影響を考慮したオープン故障の検出可能性判定, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 151, 20129.

  • 日下 敬雄, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 隣接線の影響を用いるビアオープン故障箇所の特定, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 153, 20129.

  • Takahiro Nagai, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Switching of Phase Differences in Coupled Chaotic Circuits with Regular Tetrahedron Form, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-6, 6, Sep. 2012.

  • Ayana Shimada, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Synchronization Phenomena of Two Chaotic Circuits Using Four RC Circuits, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-7, 7, Sep. 2012.

  • Yuji Takamaru, Yoko Uwate, Thomas Ott and Yoshifumi Nishio : Investigation of Clustering Phenomena Considering Density of Chaotic Circuits, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-8, 8, Sep. 2012.

  • Yoshihiro Kato, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Investigation of Cellular Neural Networks with Effect from Friends of a Friend, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-14, 14, Sep. 2012.

  • Yudai Shirasaki, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Artificial Bee Colony Algorithm with Two Kinds of Colonies, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-15, 15, Sep. 2012.

  • Takuya Inoue, Yudai Shirasaki, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Genetic Algorithm with Virus Infection for Traveling Salesman Problem, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-16, 16, Sep. 2012.

  • Naohiro Shibuya, Yuta Yokoyama, Tomoya Shima, Chihiro Ikuta, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Copy Weight Parameters for Back Propagation, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-17, 17, Sep. 2012.

  • Yuji Okazaki, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Improvement of Cryptosystem Using Two Chaotic Maps, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-22, 22, Sep. 2012.

  • Yuta Yokoyama, Chihiro Ikuta, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Investigate of Multi-Layer Perceptron with Neurogenesis, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-23, 23, Sep. 2012.

  • Kazushige Natsuno, Yoshihiro Kato, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : One Direction Two-Layer Cellular Neural Networks with Switching Templates, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-24, 24, Sep. 2012.

  • Chihiro Ikuta, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Multi-Layer Perceptron Including Learning-Neuron Chosen by Regularly-Firing-Glia, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-25, 25, Sep. 2012.

  • Muhammad Izzat bin Mohd Idrus, Yoshihiro Kato, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Noise Removal and Edge Detection by Three-Layer Cellular Neural Networks with a New Layer Arrangement, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-28, 28, Sep. 2012.

  • Saori Fujioka, Yang Yang, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Two Types of Waves in a Ladder of Simultaneous Oscillators Coupled by Inductors, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-29, 29, Sep. 2012.

  • Tomoya Shima, Yoko Uwate, Thomas Ott and Yoshifumi Nishio : Synchronization for Social Network with Local Bridge Using Coupled Rulkov Maps, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-30, 30, Sep. 2012.

  • Kentaro Kaishima, Takahiro Nagai, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Synchronization Phenomena in Five Coupled van der Pol Oscillators with Frequency Errors, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-37, 37, Sep. 2012.

  • Naoto Kageyama, Ayana Shimada, Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Three Cross-Coupled Using Simple Chaotic Circuit, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, No.1-38, 38, Sep. 2012.

  • 大栗 裕人, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 堤 利幸, 山崎 浩二, 樋上 喜信, 高橋 寛 : 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.112, No.429, 25-30, 20132.

  • 中村 真規, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 隣接TSVを考慮したTSV遅延故障検出法について, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.112, No.429, 31-36, 20132.

  • 橋爪 正樹, 芥川 正武, Lu Shyue-Kung, 四柳 浩之 : IEEE1149.1検査機構を用いた双方向信号線の電気テスト法, 27回エレクトロニクス実装学会講演大会, 55-56, 20133.

  • 小野 安季良, 高木 正夫, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : パッケージ内に電極を内蔵したICの入力部断線の交流電界印加時の電流テスト, 27回エレクトロニクス実装学会講演大会, 53-54, 20133.

    2012年度(平成24年度) / 作品等

    2012年度(平成24年度) / その他・研究会




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