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加藤 健二, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 0.35μmCMOSICの配線断線時の故障動作の実測, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 104, 2008年9月.

小山田 裕矢, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 断線故障線の論理値変化を引き起こす隣接信号線の特定, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 105, 2008年9月.

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山本 雅之, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : BAST構造における反転情報保持を利用するテスト時間削減法, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 128, 2008年9月.

樽見 洋, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : ビアオープン故障のテスト生成対象箇所の抽出, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 129, 2008年9月.

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堤 利幸, 刈谷 泰由紀, 山崎 浩二, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 : TEGチップを用いたオープン故障の解析, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.108, No.298, 19-24, 2008年11月.

榎本 崇宏, Abeyratne R. Udantha, Silva de Shaminda, 楠本 哲也, 芥川 正武, 小中 信典, 木内 陽介 : 閉塞型無呼吸症候群患者に見られる鼾の性質に関する基礎検討, システム・情報部門学術講演会2008講演論文集, 527-528, 2008年11月.

渡部 哲也, 高橋 寛, 樋上 喜信, 堤 利幸, 山崎 浩二, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 高松 雄三 : 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.108, No.431, 37-42, 2009年2月.

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高津 大樹, 國安 大樹, 宋 天, 島本 隆 : H.264/AVCにおける高効率モード選択手法, 電子情報通信学会総合大会講演論文集, No.A-6-1, 2009年3月.

樽見 洋, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 多重縮退故障に対応するビアオープンとそのテスト生成についての一考察, 電子情報通信学会総合大会講演論文集, 156, 2009年3月.

栗林 遼太, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 隣接線への論理値割当を行う断線故障検査用テスト生成, 電子情報通信学会総合大会講演論文集, 157, 2009年3月.

橋爪 正樹, 秦 豊, 四柳 浩之, 三浦 幸也 : 抵抗ラダー型DAC の電流テスト容易化設計, 電子情報通信学会総合大会講演論文集, 155, 2009年3月.

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2008年度(平成20年度) / 作品等

2008年度(平成20年度) / その他・研究会

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