Atelier Géosciences et matériaux
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AT1 : Tomographie par rayons X Nano Foyer Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’analyses et d'observations appliquées à l’analyse des produits électroniques automobiles. Equipements : Equipement RX Tomographie : General Electric v tome x s Equipement RX Laminographie : en cours d’acquisition Equipement RX 2D : XTek VTX 160
Christophe PEYRAU (Continental) Nicolas DORET (Continental) Azziz SEBBOUH (Continental) Programme : 08h45 – 09h00 : Accueil des participants 09h45 – 09h15 : Présentation du laboratoire 09h15 – 10h15 : Radiographie historique, principe, équipements, réglementation 10h15 - 10h30 : Pause 10h30 - 11h30 : Tomographie 11h30 - 12h15 : Visite du laboratoire (équipements) et présentation des moyens techniques 12h15 - 13h30 : Repas 13h30 - 17h00: Manipulation et analyse (RX3D) 17h00 : Fin de l’atelier, discussions et échanges
Qualification Laboratories Continental Automotive France SAS 1 Avenue Paul Ourliac - BP 83649 31036 Toulouse (France) Bureau: 05 61 19 55 18 Mail: azziz.sebbouh@continental-corporation.com
AT2 : Caractérisations de surface et extrême surface Objectifs : Appréhender les problématiques liées à la caractérisation de surface d'un échantillon ( massif, multi-couches, etc …) au moyen de différentes techniques (XPS, RAMAN, AFM, MEB EDS basse tension). La réflexion portera sur plusieurs points : - origine et nature des informations recueillies - stratégie à adopter dans l'utilisation des techniques les unes par rapport aux autres - préparations adaptées... Equipements : XPS K alpha AFM/STM modèle 5500 Microscope confocal RAMAN Labram HR 800 Yvon Jobin MEB FEI Quanta450 et EDS Bruker Quantax à basse tension Nombre de stagiaires : 6 personnes Lieu : Centre Inter-universitaire de Recherche et d’Ingénierie des Matériaux (CIRIMAT) - UMR CNRS 5085INP-ENSIACET, 4 allée Emile Monso – 31030 Toulouse cedex 4 Intervenants : Jérôme ESVAN Cédric CHARVILLAT Olivier MARSAN Djar OQUAB Yannick THEBAULT
9h15 - 10h45 : Présentation de l’atelier 10h45 - 11h00 : Pause 11h00 - 12h00 : Mise en pratique d'une première technique 12h00 - 14h00 : Repas 14h00 - 16h00 : Suite des démonstrations techniques 16h00 – 17h00 : Pause puis discussions, échanges, conclusion
CIRIMAT-INP-ENSIACET 4 allée Emile Monso BP44362 31030 Toulouse Cedex 4 Bureau: 05 34 32 34 45 Mail : Jerome.Esvan@ensiacet.fr
AT3 : Expertise dans le domaine spatial par EBSD et Cathodolumiscence Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’analyses par cathodoluminescence et EBSD (Electron BackScatter Diffraction) sur un MEB appliquées aux composants électroniques et optoélectroniques dans le domaine spatial (diodes laser, LED, report des composants, problématiques ROHS, brasures…). Equipements : Microscope Electronique FEG : ZEISS SUPRA55 Cathodoluminescence résolue en longueur d’onde : Gatan MonoCL4 Platine froide: (-185°C) GATAN C1003 EBSD: caméra Oxford Instrument Nordlys II S Nombre de stagiaires : 8 personnes Lieu : Laboratoire d’expertise du CNES 18, avenue Edouard Belin, 31401 Toulouse Intervenants : Gérald GUIBAUD (Thales CS) Hélène CHAUVIN (Thales CS) Romain PETRE-BORDENAVE (ELEMCA) Patrick NGUYEN (ELEMCA) Guy PEREZ (CNES) Frédéric BOURCIER (CNES) Programme : 8h30-9h00 : Accueil des participants avec café et viennoiseries 9h30-11h00 : Analyse EBSD : démonstration de cartographie sur un joint brasé (groupe 1) //// Visite du laboratoire (groupe 2) 11h00-12h30 : Analyse EBSD : démonstration de cartographie sur un joint brasé (groupe 2) //// Visite du laboratoire (groupe 1) 12h30-14h00 : Repas restaurant du CNES 14h00-15h30 : Préparation d’échantillon et analyse en cathodoluminescence résolue en longueur d’onde à basse température sur une diode laser (groupe 1) //// Présentation d'un cas d'étude d'expertise pour un projet spatial (groupe 2) 15h30-16h00 : Pause-café et discussion 16h00-17h30 : Préparation d’échantillon et analyse en cathodoluminescence résolue en longueur d’onde à basse température sur une diode laser (groupe 2) //// Présentation d'un cas d'étude d'expertise pour un projet spatial (groupe 1) Coordinateur : Frédéric BOURCIER CNES
18, avenue E.Belin 31401 TOULOUSE Bureau : 05.61.28.17.71 Mail : frederic.bourcier@cnes.fr 
AT4: La micro-fractographie dans l’expertise Objectifs : Sensibiliser les stagiaires à l’apport du MEB et de la fractographie dans les expertises suite à accident ou incident (analyse de ruptures métalliques et composites). Equipements : FEG JEOL JSM-7800F FEI XL30 ESEM MEB JEOL 6510 Grande Chambre
47, rue Saint Jean BP 93123 31131 BALMA Cedex Intervenants : Valérie DEJEAN (Responsable d’expertise) Myriam FONTES (Responsable d’expertise) Christophe LE FAOU (Responsable d’expertise) Jean-Claude BOTTIN (Responsable d’expertise) Programme : 8h45 - 9h : Accueil des participants 9h – 9h45 : Présentation du centre et du département Investigations 9h45 - 10h : Pause 10h00 - 12h : Visite 12h - 13h30 : Repas 13h30 - 16h30 : Démonstrations et travaux pratiques 16h30 – 17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges
DGA Techniques aéronautiques 47, rue Saint Jean BP 93123 31131 BALMA Cedex Mail : christophe.le-faou@intradef.gouv.fr
AT5 : Expertise en analyses des matériaux Couplage FIB - MET - Microsonde
Dual-beam FEI Helios NanoLab 600i Microscope Electronique en Transmission Jeol JEM 2100F
Sophie GOUY (IE Université Toulouse III) Claudie JOSSE (IE CNRS) Philippe de PARSEVAL (IR Université Toulouse III) Marc de RAFELIS (Pr Université Toulouse III)
9h - 10h : Analyses couplées (FIB, TEM, microsonde) de superalliage et géomatériaux 10h - 10h30 : Pause 10h30 - 12h : Visite du Centre Raimond Castaing 12h - 13h30 : Repas 13h30 - 17h : Démonstrations et travaux pratiques (Microsondes, FIB, TEM) 17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges
AT6 : Comprendre pour mieux concevoir au génie civil Objectifs : Initier les stagiaires aux différentes techniques d’analyse permettant la caractérisation chimique, minéralogique et microstructurale des matériaux de construction (DRX, Fluorescence X, MEB) Equipements : Microscope Electronique Jeol 6380LV Spectromètre de fluorescence X Shimadzu EDX 800P Appareil de fusion Le Neo - Claisse Diffractomètre des rayons X Bruker D8000 Advance Nombre de stagiaires : 5 personnes Lieu : Laboratoire Matériaux et Durabilité des Constructions (LMDC), INSA Génie Civil, 135 avenue de Rangueil, 31077 Toulouse cedex 04 Intervenants : Vanessa MAZARS (IE INSA) Gilles ESCADEILLAS (Professeur Université Toulouse III) Programme : 8h50 - 9h : Accueil des participants 9h - 10h : Différentes techniques d’analyse : de la composition chimique à la microstructure des matériaux 10h - 10h30 : Pause 10h30 - 12h : Visite du LMDC et échanges sur les techniques d’analyses au génie civil 12h - 13h30 : Repas 13h30 - 17h : Démonstration et travaux pratiques (DRX, Fluorescence X, MEB) - Analyse minéralogique d’une pâte de ciment par diffraction des rayons X - Analyse chimique par spectrométrie de fluorescence X : préparation de l’échantillon, analyse - Observation de la microstructure d’un béton au MEB 17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges Coordinateur : Vanessa MAZARS LMDC - INSA Génie civil 135 avenue de Rangueil 31077 TOULOUSE cedex 04 Bureau : 05.61.55.99.28 Mail : vmazars@insa-toulouse.fr http://www-lmdc.insa-toulouse.fr/recherche/equip_ch.php
AT7 : Matériaux du patrimoine culturel Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des méthodes et techniques d’analyses (microscopie électronique, diffraction des Rayons X et spectroscopie Raman) appliquées à des objets archéologiques ou historiques (couches décoratives de céramiques, patines de bronzes, matériaux des premiers âges de l’aéronautique…) Equipements : Microscope Electronique à Balayage (JEOL 6490) Spectromètres Raman (XploRa MV2000) Diffractomètre RX (D8 Discover)
Christophe DESHAYES (CEMES-CNRS) Nicolas RATEL (CEMES-CNRS) Luc ROBBIOLA (TRACES, Université Toulouse 2) Philippe SCIAU (CEMES-CNRS)
9h00-9h45 : Principe de la caractérisation des matériaux du patrimoine et présentation des TP 9h45-10h00 : Pause 10h15-12h : Démonstrations et travaux pratiques (MEB ou spectroscopie Raman) 12h-13h30 : Repas 13h30-15h15 : Démonstrations et travaux pratiques (spectroscopie Raman ou DRX) 15h15-17h : Démonstrations et travaux pratiques (DRX ou MEB) 17h : Fin de l’Atelier, discussion et échanges Coordinateur : Magali Brunet CEMES-CNRS 29 rue J. Marvig, 31055 TOULOUSE Bureau : 05 62 25 78 96 Mail : magali.brunet@cemes.fr
AT8 : Microscopie Electronique en Transmission Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser avec la microscopie électronique en transmission et son application en science des matériaux. Equipements : Microscope Electronique en Transmission CM20FEG, EELS, EDX et I2TEM Holographie électronique Nombre de stagiaires : 8 à 10 personnes Lieu : Centre d’Elaboration de Matériaux et d’Etudes Structurales (CEMES) 29 rue de J. Marvig, 31055 Toulouse Intervenants : Florent HOUDELLIER (IR CEMES CNRS) Cécile MARCELOT (IE CEMES CNRS) Programme : 8h45 - 9h : Accueil des participants 9h - 10h15 : La Microscopie Electronique en Transmission, principe et application en science des matériaux. Conventionnel, diffraction (SAED, CBED, LACBED), Haute Résolution, spectroscopie de perte d’énergie d’électrons et STEM (balayage en TEM) 10h15 - 10h30 : Pause 10h30 - 11h30 : Une introduction à la cartographie quantitative des champs par Holographie électronique 11h30 - 12h15 : Visite du laboratoire CEMES et présentation des moyens techniques 12h15 - 13h30 : Repas 13h30 - 17h : Démonstrations et travaux pratiques au TEM sur un échantillon de votre choix - Etudes structurales en CTEM et diffraction - Etude chimique en EDX et EELS (STEM-EELS possible) - Ouverture vers l’holographie électronique et la microscopie cohérente 17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges.
CEMES-CNRS 29 rue J. Marvig 31055 TOULOUSE Bureau : 05.62.25.78.80 Mail : Florent.houdellier@cemes.fr http://www.cemes.fr
AT 9 : Cryomicroscopie à balayage : de la chimie à la biologie
Céline GUILBEAU-FRUGIER (MCU-PH Faculté de Médecine de Rangueil) Bruno PAYRE (IE Univ. Toulouse III) Dominique GOUDOUNECHE (Tech Univ. Toulouse III) Isabelle FOURQUAUX (Tech Univ. Toulouse III)
Frédéric LEROUX, Spécialiste applications, Leica Microsystèmes LSN Nano Programme : 8h30-9h00 : Accueil des participants 9h-9h20 : Principe du microscope électronique à balayage 9h20-9h40 : Techniques de préparation des échantillons hydratées 9h40-10h00 : Application à un sujet de recherche 10h00-10h15 : Pause 10h15-11h00 : TD-Cryo-préparation d’échantillons 11h00-12h : TD-Observation d’échantillons au cryo-MEB 12h-13h30 : Repas 13h30-14h30 : TD-Cryo-préparation d’échantillons 14h30-16h00 : TD-Observation d’échantillons au cryo-MEB 16h-17h : Table ronde, bilan des observations, discussion et échanges. 17h : Fin de l’Atelier. Coordinateurs : Céline.GUILBEAU-FRUGIER et Bruno PAYRE CMEAB, Faculté de Médecine Rangueil, 133 route de Narbonne Bureau : 05 62 88 90 35 Mail : cmeab.contact@univ-tlse3.fr
AT10 : Cryométhodes en Microscopie Electronique en Transmission Objectifs : Ce stage présente les principales techniques de préparations des échantillons biologiques et chimiques au plus proche de leur état natif en utilisant les cryométhodes ainsi que leur observation en cryomicroscopie. Ces technologies seront abordées sous un aspect théorique puis pratique durant les ateliers de préparations et d’observation des échantillons. Equipements : Microscope Electronique JEOL JEM 2100 Cryoplunge Leica EMGP Cryofixateur haute pression Leica EMPACT1 Cryosubstituteur Leica AFS2 Cryoultramicrotome Leica UC7/FC7
Bâtiment IBCG-CNRS 118, route de Narbonne – 31062 Toulouse cedex
Vanessa SOLDAN (AI METi) Pierre-Emmanuel GLEIZES (Pr. Responsable scientifique METi) Célia PLISSON-CHASTANG (CR2 Responsable cryomicroscopie METi) Programme : 8h45 - 9h : Accueil des participants 9h – 9h30 : Visite du METi 9h30 - 10h30 : Présentation orale 10h30 - 11h : Pause 11 - 12h : Présentation orale 12h - 13h30 : Repas 13h30 - 17h : Atelier de cryopréparation des échantillons (cryocoupes et cryoplunge) Atelier de cryomicroscopie 17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges
Plateforme de Microscopie Electronique Intégrative METi Bâtiment IBCG-CNRS 118, route de Narbonne - 31062 Toulouse cedex Bureau : 05.61.33.59.12 Mail : stephanie.balor@ibcg.biotoul.fr https://www-meti.biotoul.fr//
AT11 : Recherche de traces en Police Scientifique Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’analyse par microscopie électronique à balayage couplé à un système de micro-analyse X (MEB/EDS) appliqué à la recherche de traces en Police Scientifique dans le domaine de l’expertise judiciaire. Equipements : Microscope Electronique LEO 435 VP - Micro-Analyseur X – OXFORD INCA Microscope Electronique ZEISS EVO MA 10 - Micro-Analyseur X – OXFORD INCA Nombre de stagiaires : 8 personnes Lieu : Laboratoire de Police Scientifique de Toulouse – 23, bd de l’Embouchure 31021 TOULOUSE Cedex Intervenants : Valérie ROBIN (Ingénieur en Chef – Cellule Communication) Karim MAACHI (Ingénieur – Cellule Communication) Jean Luc BOSCO (Ingénieur Principal – Division Chimie/Section Physico – Chimie) Christian BROCARD (Ingénieur en Chef - Section Balistique) Philippe REYNIER (Major de Police – section Balistique) Sylvie BATTISTUTA (Technicien en Chef - Division Chimie/Section Physico – Chimie) Sébastien BREIL (Technicien en Chef – Division Chimie/Section Physico – Chimie)
08h45 - 09h00 : Accueil des participants 09h00 - 09h30: L’exploitation des traces en Police Scientifique 09h30 - 10h15: Bases de la Balistique Moderne - Principe de l’investigation dans le cadre de la Police Scientifique 10h15 - 10h30 : Pause 10h30 - 11h30 : Principe de la recherche de particules Résidus de Tir par MEB et Micro – Analyse X 11h30 - 12h00 : Visite de la section Balistique du Laboratoire de Police – Tirs d’essais 12h00 - 13h30 : Repas 13h30 – 16h50 : Démonstrations et travaux pratiques (MEB et Micro-Analyse X)
- Analyse en mode automatique (EVO MA 10) - Analyse en mode manuel (LEO 435 VP) 16h50 - 17h00 : Fin de l’atelier, discussions et échanges
Laboratoire de Police Scientifique de Toulouse 23, bd de l’Embouchure 31021 TOULOUSE Cedex Bureau : 05.61.12.79.08 Mail : jean-luc.bosco@interieur.gouv.fr Site Internet : http://www.interieur.gouv.fr/sections/inps    
AT12 : Nanoélectronique Objectifs : Permettre aux stagiaires de se familiariser et d’échanger sur des techniques d’observations (microscopie électronique en transmission haute résolution et spectrométrie de masse des ions secondaires) appliquées à l’analyse des matériaux pour la nanoélectronique. Equipements : Sonde ionique focalisée (FEI Helios 600i) Microscope Electronique en Transmission (JEM-ARM200F Cold FEG) Spectrométrie de masse des ions secondaires (CAMECA IMS 4FE6)
7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse - Centre de Microcaractérisation Raimond Castaing (UMS3623) Espace Clément ADER, 3, rue Caroline Aigle, 31400 TOULOUSE Intervenants : Fuccio CRISTIANO (DR, LAAS-CNRS) Lucien DATAS (IR CIRIMAT-CNRS) Pier-Francesco FAZZINI (MCF, LPCNO-INSA Toulouse) Teresa HUNGRIA (IE UPS) Benjamin REIG (IR, LAAS-CNRS)
9h - 10h15 : Introduction aux problématiques de la nanoélectronique :
10h15 - 10h45 : Pause 10h45 - 12h : Visite de la salle blanche du LAAS :
12h - 13h30 : Repas – Transfert au Centre de Microcaractérisation 13h30 - 14h : Présentation des méthodes de préparation de matériaux massifs pour le MET 14h - 17h : Démonstrations et travaux pratiques (SIMS et MET) 17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges Coordinatrice : Teresa HUNGRIA Centre de Microcaractérisation Raimond Castaing, Espace Clément ADER, 3, rue Caroline Aigle, 31400 TOULOUSE Bureau : 05.61.17.10.39 Mail : maria-teresa.hungria-hernandez@univ-tlse3.fr http://ccarcastaing.fr/
AT13 : Caractérisation de dispositifs électroniques Objectifs : Découvrir des utilisations non conventionnelles du MEB avec des détecteurs non intégrés : EBIC (Electron Beam-Induced Current) : la jonction p-n comme détecteur, applications : analyse du fonctionnement et de la défaillance de diodes, transistors et cellules solaires. SEAM (Scanning Electron Acoustic Microscopy) : Ondes acoustiques générées par le faisceau d’électrons, applications : mise en contraste des propriétés mécaniques et zones de contraintes, visualisation des zones dopées dans les semi-conducteurs. Equipements : MEB JEOL 6400 et JEOL 840, EBIC, SEAM Nombre de stagiaires : 6 personnes Lieu : INSA, département Génie Physique - 135 avenue de Rangueil - 31077 TOULOUSE CEDEX 4 Intervenants : Benoit VIALLET (MC INSA) Jean-Luc GAUFFIER (MC INSA) Simon CAYEZ (IE INSA) Stéphanie REYJAL (Technicienne INSA) Programme : 8h45 - 9h : Accueil des participants 9h - 10h : Présentation et visite du laboratoire de micro et nano caractérisation 10h - 10h30 : Pause 10h30 - 12h : EBIC : démonstrations et travaux pratiques 12h - 13h30 : Repas 13h30 - 17h : SEAM : démonstrations et travaux pratiques 17h : Fin de l’atelier, discussions et échanges
INSA département Génie Physique 135, avenue de Rangueil 31077 TOULOUSE CEDEX 4 Bureau : 05.61.55.96.72 Mail : benoit.viallet@insa-toulouse.fr http://geniephysique.insa-toulouse.fr/fr/prestations_de_services.html Yüklə 92,32 Kb. Dostları ilə paylaş:
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