22 juin 2007 directement auprès de chaque centre organisateur



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2 expose des motifs

De plus en plus d’universités s’équipent avec Windows serveur 2003. Cette formation a pour but d’aider les personnels qui ont appris à utiliser de façon autodidacte le serveur ou les personnels qui vont être amenés à l’utiliser, à structurer leur pratique.


Cette action de formation a été organisée dans le cadre des universités d’automne 2005 et 2006

Elle est organisée pour les salariés des entreprises de la Région Nord Pas de Calais, dans le cadre de la formation continue




3 pédagogie

La formation se compose de 20% de théorie et de 80% de travaux pratiques.

Chaque participant travaillera sur le réseau Windows 2003.

Une documentation sera remise aux participants (documents écrits et CD).


3.2.Responsable pédagogique :

Nom - Prénom : Michel DEBLOCK : Directeur du service formation continue, PRAG



Alain SCOHIER : Professeur ENSAM
Adresse : IUT A- Département Génie Electrique

Cité Scientifique-USTL

59655 Villeneuve d’Ascq Cedex
Tél . 03 20 43 65 58

Fax : 03 20 33 61 50

Mèl : michel.deblock@univ-lille1.fr
4. organisation
4.1.Etablissement organisateur

Nom de l’établissement : Université des Sciences et Technologies de Lille

Service organisateur : SUDES

Adresse: Cité Scientifique

Bd Langevin

59655 Villeneuve d’Ascq Cedex


Tél. 03 20 43 65 29

Fax 03 20 43 67 77

Mèl sylviane.dherbomez@univ-lille1.fr
Nom de la personne recevant les candidatures : Sylviane d’HERBOMEZ
4.2.Responsable administratif

Nom : Sylviane d’HERBOMEZ


Adresse: SUDES

Université des Sciences et Technologies de Lille

Cité Scientifique

Bd Langevin

59655 Villeneuve d’Ascq Cedex
Tél. 03 20 43 65 29

Fax 03 20 43 67 77

Mèl sylviane.dherbomez@univ-lille1.fr


Microscopie électronique à balayage et microanalyse X (EDS),

maîtrise des réglages et du fonctionnement.


    1. Public concerné

Assistants d’ingénieur, techniciens de laboratoire, utilisateurs occasionnels

Spécialité : Instrumentation scientifique (microscope électronique et techniques associées) ; technique des couches minces ; matériaux métalliques (support de formation).

Toute personne ayant déjà une connaissance théorique de cet équipement et qui souhaite en maîtriser le fonctionnement et les diverses applications.


    1. Nombre de participants maximum : 16 participants




    1. Calendrier Semaine 46, du lundi 12 au vendredi 16 novembre 2007 (5 jours)




    1. Objectifs du stage

- Maîtriser les réglages et le pilotage d’un microscope électronique à balayage en vide conventionnel et en vide partiel sur 2 équipements de génération différente.

- Maîtriser les réglages et le pilotage d’un spectromètre de rayonnement X (EDS) couplé à un des deux microscopes.

- Utiliser ces équipements dans le cadre de travaux divers (morphologie de ruptures métalliques, états de corrosion, matériaux non métalliques, dépôts de couches minces en PVD), et être capable de le transposer dans d'autres domaines d'utilisation.

- Avoir un esprit critique quant à l’interprétation des résultats.

- Maîtriser les préparations d’échantillons.

- Connaître toutes les contraintes d’environnement et de sécurité d’utilisation des équipements.




    1. Pré-requis Connaître la théorie et le descriptif des appareils utilisés (microscope et spectromètre).




    1. Contenu du stage

Aspect théorique :

- Rappels sur les théories de la microscopie électronique à balayage et de la microanalyse de rayonnement X.

- Dépôt sous vide : compréhension des procédés mis en jeux, fonctionnement des équipements.

- Métallurgie de base : connaissance des familles d’acier et des transformations possibles (utilisée comme support pour les applications pratiques).



Aspect pratique :

- La mise en service d’un microscope électronique à balayage.

- Le changement de filament, les réglages du faisceau d’électrons.

- Les divers modes d’imageries, l’influence des divers réglages.

- L’acquisition et le traitement du rayonnement X émis lors de l’interaction faisceau / échantillon.

- Le dépôt de couches minces avec un magnétron.

- La caractérisation des matériaux métalliques.

- La préparation des échantillons




  1. EXPOSE DES MOTIFS

Un équipement constitué d’un microscope électronique à balayage et d’un spectromètre en dispersion d’énergie de rayonnement X est de plus en plus fréquent dans les universités et grandes écoles. Certains postes sont à utilisateur unique, d’autres en multiservices avec des fréquences d’utilisation variables, de plus cet équipement apporte des informations à la plupart des secteurs d’activité des établissements (matériaux métalliques et non métalliques, usinage, électronique, forge, fonderie, bois et dérivés, imagerie de morphologie, etc…).

Il est important que tout utilisateur potentiel se sente en confiance devant cet équipement qui est devenu très convivial mais qui nécessite une approche rigoureuse et un esprit critique quant aux résultats obtenus.

D’autre part, tout demandeur de prestation avec cet équipement pourra mieux cerner la nature des travaux qu’il aura demandés.


A notre connaissance il n'y a pas encore eu de programme similaire. Néanmoins, des actions pouvant satisfaire aux pré requis, puisque principalement tournées vers la théorie, ont déjà été organisées.


  1. PEDAGOGIE

Cette action se veut résolument pratique, la partie cours théorique, réduite au strict nécessaire (3 matinées au total), se fera par le biais de présentations Power Point pour l'ensemble des participants. Des documents supports couleur reliés leur seront remis.

Pour les travaux pratiques, les 12 stagiaires seront divisés en 2 groupes qui alterneront les séances de travail sur les divers équipements étudiés. Les permutations se feront soit sur le rythme de 1 toutes les 2 heures, soit 1 toutes les demi-journées. Bien entendu, tous les participants auront le même temps de manipulation sur les divers ateliers, que les travaux soient collectifs ou individuels.



    1. Responsables pédagogiques :

Nom – Prénom : LAGADRILLERE Denis

Qualité : chargé d'études laboratoire matériaux

Adresse : ENSAM rue Porte de Paris 71250 CLUNY


Tél. 03 85 59 53 94

Fax 03 85 59 53 70

Mèl : denis.lagadrillere@cluny.ensam.fr
Formateurs : Denis LAGADRILLERE, Corinne NOUVEAU, Denis BONSEMBIANTE, Jean QUESADA, Pierre Michel BARBIER.


  1. ORGANISATION




    1. Établissement organisateur


C.E.R. ENSAM de CLUNY

Adresse : rue Porte de Paris 71250 CLUNY


Tél. 03 85 59 53 56

Fax 03 85 59 53 70

Mèl cfpic@cluny.ensam.fr
Nom de la personne recevant les candidatures : Angelo GAIAO


    1. Responsable administratif Angelo GAIAO



« Microscopie électronique à balayage et microanalyse X,

Maîtrise des réglages et du fonctionnement »



    1. Public concerné Ingénieurs et Techniciens BAP :A, B, C

Spécialité : Analyse en Sciences du Vivant, en Sciences de la Terre et en Matériaux (BAPs A et B); Instrumentation de Laboratoire : Microscopie Electronique et techniques associées (BAP C).


    1. Nombre de participants maximum : 12 participants




    1. Calendrier Formation sur 5 jours : du lundi 12 novembre au vendredi 16 novembre 2006 (semaine 46).




    1. Objectifs du stage

- Comprendre l’optique électronique et le mode de fonctionnement du microscope électronique à balayage (MEB);

- Comprendre les informations contenues dans les différents types d’image fournis par le MEB et connaître leur interprétation ;

- Connaître les principales techniques analytiques couramment associées au MEB et le complément d’information qu’elles apportent aux analyses dans le domaine de la biologie, de la géologie et en matériaux ;

- Connaître les méthodes d’observation à pression variable (modes conventionnel, vide partiel et environnemental) en microscopie à balayage ;

- Aspects pratiques de l’installation (Hygiène et Sécurité) et de la gestion d’un laboratoire contenant des microscopes électroniques et des équipements pour la préparation d’échantillons.

Ce stage est l’occasion de donner des réponses aux problématiques d’observation des participants en accentuant la formation sur le fonctionnement et les réglages des microscopes (2 modèles différents disponibles pour le stage dans notre laboratoire).




    1. Pré-requis Connaissances de base physique et chimie minérale (niveau bac+2 scientifique ou équival)




    1. Contenu du stage

Microscopie électronique à Balayage :

  • Généralités et principes théoriques ;

  • Architecture et fonctionnement d’un MEB : l’optique électronique

  • Relations Paramètres de réglages/ Performance du MEB

  • Obtention des différents types d’image – exemples

  • Fonctionnement d’un MEB à pression variable - exemples

  • Installation et gestion d’un laboratoire de microscopie électronique

Microanalyse X par EDS :

  • Généralités et principes théoriques

  • L’équipement

  • Paramètres d’utilisation et calibration

  • L’analyse qualitative et semi-quantitative ; les artefacts

  • L’analyse avec standard pour la quantification

  • Cartographie élémentaire et lignes de profil

  • Acquisition de spectres et traitement de données.

Le travail aux microscopes sera effectué en utilisant des échantillons adaptés à chaque mode d’observation :

- En mode « vide conventionnel » : métaux, céramiques, échantillons biologiques préparés

- En mode « vide partiel » : matériaux hydratés (grains de riz, poudre de lait, feuilles de thé…)

- En mode environnemental : changements de phase de sels

- Analyse X et cartographie : lames minces d’échantillons géologiques



  1. EXPOSE DES MOTIFS

La formation, alternance entre théorie et pratique pour chaque sujet, amène à connaître le fonctionnement du MEB et permett d’arriver rapidement et efficacement et à des réglages fins et rapides et à l’interprétation des résultats. Les participants manipulent 2 microscopes à balayage de modèles et mode de fonctionnement différents (JEOL JSM 5410-LV et FEI/Philips Quanta 200 ESEM/FEG), ce qui élargit connaissance et expérience de réglages et d’observations. Les frais de fonctionnement des microscopes sont assez lourds (contrats d’entretien, consommables,). Les règles permettant de gérer au mieux ces postes sont données.


    1. Cette action a déjà été organisée

Université d’Automne 2005 et 2006 : « Microscopie Electronique, préparation d’échantillons».



  1. PEDAGOGIE




  • Cours magistraux pour les aspects théoriques + TD et TP

  • Alternance de théorie et de pratique par périodes de 2 heures et par sous-groupes de 6 participants maximum.

  • Observations simultanées aux 2 MEBs (JEOL JSM 5410-LV et FEI/Philips Quanta 200 ESEM/FEG) par sous-groupes de 3 participants maximum pour chaque appareil.

Les supports et la documentation seront fournis à chaque participant


    1. Responsables pédagogiques :

Nom – Prénom : CONFORTO Egle, Dr

Qualité : IR1 – Directrice du Centre Commun d’Analyses

Adresse : Centre Commun d’Analyses (Service organisateur)

Université de La Rochelle

5, Allée de l’Océan

17071 La Rochelle CEDEX 9

tel : 05 46 45 86 17

fax : 05 46 45 85 55

e-mail : egle.conforto@univ-lr.fr

Formateurs  : Egle Conforto, Monique Bordes, Xavier Feaugas





  1. ORGANISATION

    1. Etablissement organisateur

Nom de l’établissement : Université de La Rochelle, Division des Ressources Humaines

Adresse : 23, avenue Albert Einstein

17071 La Rochelle CEDEX 9

Tel : 05 46 45 87 16

Fax : 05 46 45 72 52

e-mail : marie-annick.aufrere@univ-lr.fr

Nom de la personne recevant les candidatures :

Marie Annick AUFRERE, assistante formation




    1. Responsable administratif

Nom : SALLES Dominique, D.R.H.

Adresse : 23, avenue Albert Einstein

17071 La Rochelle CEDEX 9



Tel : 05 46 45 87 16

Fax : 05 46 45 72 52

e-mail : dominique.salles@univ-lr.fr


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